[发明专利]检测透明/半透明材料缺陷的方法、装置及系统在审

专利信息
申请号: 201880067020.7 申请日: 2018-09-27
公开(公告)号: CN111213029A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 王星泽;闫静;舒远 申请(专利权)人: 合刃科技(深圳)有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种检测透明/半透明材料缺陷的方法,包括:根据预设的采样配置确定一个或一个以上的采样点位置;控制相干光光源(10)生成相干光光束照射采样点,所述相干光光束在检测时照射层状检材的采样点位置;通过感光元件(30)采集所述相干光光束照射检材后反射的光信号的干涉图像信息;根据所述干涉图像信息计算所述采样点位置对应的材料厚度信息,根据材料厚度信息确定所述层状检材的缺陷。此外,还公开了一种利用上述方法检测透明/半透明材料缺陷的装置和一种利用上述方法检测透明/半透明材料缺陷的检测系统。可提高透明/半透明层状材料厚度缺陷检测的准确性。
搜索关键词: 检测 透明 半透明 材料 缺陷 方法 装置 系统
【主权项】:
暂无信息
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