[发明专利]堆叠式DDR存储器的存储器测试控制在审
| 申请号： | 201880061029.7 | 申请日： | 2018-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN111108564A | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | A·贾恩;N·布尚·辛格;R·亚沃布;D·路易斯 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/16 | 分类号： | G11C29/16;G11C29/12;G11C29/36 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 董莘 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了用于实现诸如总线集成存储器控制器(BIMC)的存储器控制器的方法和装置，该存储器控制器包括存储器内置自测试(MBIST)控制器或逻辑。MBIST控制器被配置为用于测试至少一个存储器设备，诸如片上系统中的堆叠式低功率双数据速率(LPDDR)存储器或使得难以在外部对存储器设备进行测试的类似构造。MBIST控制器可以在标准存储器控制器内实现，并且包括存储器转换逻辑，该存储器转换逻辑被配置为将用于测试至少一个存储器设备的信号转换为能够由至少一个存储器设备使用的格式的信号，其中该转换逻辑用来实现存储器表示。 | ||
| 搜索关键词： | 堆叠 ddr 存储器 测试 控制 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高通股份有限公司，未经高通股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880061029.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：存储器修复启用
- 下一篇：万能卡及利用其的结算方法
