[发明专利]用于校正针对泄漏的低渗透率实验室测量的方法在审
| 申请号： | 201880046373.9 | 申请日： | 2018-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN110892244A | 公开（公告）日： | 2020-03-17 |
| 发明（设计）人： | 丹尼尔·T·格奥尔基;陈煌烨;刘会海 | 申请（专利权）人： | 沙特阿拉伯石油公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 潘军 |
| 地址： | 沙特阿拉*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于校正针对泄漏的低渗透率实验室测量的方法。对从地层取回的岩心样本进行脉冲衰减渗透率(PDP)实验。PDP实验包括使流体流过密封外壳中的岩心样本。响应于使流体流过该岩心样本，测量流体压力随时间的变化。基于流体压力随时间的变化，确定来自该密封外壳的流体泄漏。响应于确定来自该密封外壳的流体泄漏，基于流体压力随时间的变化来确定该泄漏的解析模型。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校正 针对 泄漏 渗透 实验室 测量 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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