[发明专利]用于校正针对泄漏的低渗透率实验室测量的方法

权利要求书

1.一种方法，包括：

对从地层取回的岩心样本进行脉冲衰减渗透率PDP实验，所述PDP实验包括使流体流过密封外壳中的所述岩心样本；

响应于使流体流过所述岩心样本，测量流体压力随时间的变化；

基于流体压力随时间的变化，确定来自所述密封外壳的流体泄漏；以及

响应于确定来自所述密封外壳的流体泄漏，基于流体压力随时间的变化来确定所述泄漏的解析模型。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括基于流体压力随时间的变化以及基于所述泄漏的解析模型，确定表示所述岩心样本的渗透率的渗透率模型。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，通过考虑泄漏效应来拟合非直线曲线从而确定所述渗透率。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述密封外壳包括上游储集层、下游储集层以及在所述上游储集层和所述下游储集层之间的岩心支架，其中，对所述岩心样本进行所述PDP实验包括：

将所述岩心样本放置在所述岩心支架中；以及

使所述流体通过所述岩心支架中的岩心样本流入所述上游储集层，并且流入所述下游储集层，

其中，基于上游储集层和下游储集层之间的压力差确定来自所述上游储集层和所述下游储集层的流体泄漏。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述岩心样本是未破裂的岩心样本。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，响应于使所述流体流过所述未破裂的岩心样本，测量流体压力随时间的变化包括：记录所述上游储集层和所述下游储集层中的每一个的压力瞬态曲线。

7.根据权利要求6所述的方法，还包括基于所述压力瞬态曲线确定所述上游储集层和所述下游储集层之间的实验压力差的对数。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，基于流体压力随时间的变化来确定所述流体泄漏包括：

确定所述实验压力差的对数基本上为直线；以及

确定不存在来自所述上游储集层和所述下游储集层的泄漏。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，基于流体压力随时间的变化来确定所述流体泄漏包括：

确定所述实验压力差的对数基本上是非直线曲线；以及

确定存在来自所述上游储集层和所述下游储集层的泄漏。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，响应于确定来自所述上游储集层和所述下游储集层的流体泄漏，通过以下步骤基于流体压力随时间的变化来确定泄漏率：

基于流过所述未破裂岩心样本的所述流体的参数确定所述上游储集层和所述下游储集层之间的理论压力差，所述理论压力差与所述密封外壳的所述泄漏无关；以及

比较所述理论压力差和所述实验压力差。

11.根据权利要求4所述的方法，其中，所述岩心样本是破裂的岩心样本，所述破裂的岩心样本包括形成在所述岩心样本的基质中的裂缝。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，响应于使所述流体流过所述破裂的岩心样本，测量流体压力随时间的变化包括：

测量流体压力随时间的第一阶段变化，流体压力的所述第一阶段变化基于所述流体流过所述裂缝；

测量流体压力随时间的第二阶段变化，流体压力的所述第二阶段变化基于所述流体流过所述裂缝之后所述流体流过所述基质，以及

其中，基于流体压力随时间的变化来确定来自所述密封外壳的流体泄漏包括：确定流体压力随时间的所述第二阶段变化的对数偏离基本直线。