[发明专利]用于校正针对泄漏的低渗透率实验室测量的方法

说明书

一种用于校正针对泄漏的低渗透率实验室测量的方法。对从地层取回的岩心样本进行脉冲衰减渗透率(PDP)实验。PDP实验包括使流体流过密封外壳中的岩心样本。响应于使流体流过该岩心样本，测量流体压力随时间的变化。基于流体压力随时间的变化，确定来自该密封外壳的流体泄漏。响应于确定来自该密封外壳的流体泄漏，基于流体压力随时间的变化来确定该泄漏的解析模型。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年6月19日提交的美国临时专利申请62/521,786和2018年6月5日提交的美国实用新型专利申请16/000,651的优先权，其内容通过引用合并于此。

技术领域

本说明书涉及测量低渗透率岩层的渗透率。

背景技术

由于水力压裂和水平钻井等技术的发展，致密岩层(例如，页岩)作为潜在的油气资源引起了越来越多的关注，这使得这些非常规资源的生产在经济上变得可行。这种岩层的渗透率是表征储集层特征的参数，并用于预测储集层的生产率和获利能力。精确测量这种非常规资源的渗透率有助于确定储集层的生产能力。

发明内容

本说明书描述了有关校正针对泄漏的低渗透率实验室测量的技术。

此处描述的主题的某些方面可以实施为一种方法。对从地层取回的岩心样本进行脉冲衰减渗透率(PDP)实验。PDP实验包括使流体流过密封外壳中的岩心样本。响应于使流体流过该岩心样本，测量流体压力随时间的变化。基于流体压力随时间的变化，确定来自该密封外壳的流体泄漏。响应于确定来自该密封外壳的流体泄漏，基于流体压力随时间的变化来确定该泄漏的解析模型。

这和其他方面可以包括以下一个或多个特征。

基于流体压力随时间的变化以及该泄漏的解析模型，可以确定表示该岩心样本渗透率的渗透率模型。

考虑到泄漏的影响，可以通过拟合非直线曲线来确定渗透率。

密封的外壳可以包括上游储集层、下游储集层以及在上游储集层和下游储集层之间的岩心支架。对岩心样本进行PDP实验可以包括：将该岩心样本定位在岩心支架中；使流体流入上游储集层；使流体流过岩心支架中的岩心样本；以及使流体流入下游储集层。可以基于上游储集层和下游储集层之间的压力差来确定来自上游储集层和下游储集层的流体泄漏。

岩心样本可以是未破裂的岩心样本。

响应于使流体流过未破裂的岩心样本，测量流体压力随时间的变化可以包括：记录上游储集层和下游储集层中的每一个的压力瞬态曲线。

可以基于该压力瞬态曲线确定上游储集层和下游储集层之间的实验压力差的对数。

基于流体压力随时间的变化来确定流体泄漏可以包括：确定实验压力差的对数是基本直线，以及确定不存在来自上游储集层和下游储集层的泄漏。

基于流体压力随时间的变化来确定流体泄漏可以包括：确定实验压力差的对数基本上是非直线曲线，以及确定存在来自密封外壳的泄漏。

响应于确定来自上游储集层和下游储集层的流体泄漏，通过基于流过未破裂的岩心样本的流体的参数确定上游储集层和下游储集层之间的理论压力差，可以基于流体压力随时间的变化来确定泄漏率，其中，理论压力差可以与来自密封外壳的泄漏无关。响应于确定来自密封外壳的流体泄漏，通过比较理论压力差和实验压力差，可以基于流体压力随时间的变化来确定泄漏率。

岩心样本可以是破裂的岩心样本，包括形成在该岩心样本的基质中的裂缝。