[发明专利]磁式方位·位置测量装置有效
申请号: | 201880041416.4 | 申请日: | 2018-05-18 |
公开(公告)号: | CN110869707B | 公开(公告)日: | 2022-02-25 |
发明(设计)人: | 本蔵义信;本蔵晋平 | 申请(专利权)人: | 朝日英达科株式会社 |
主分类号: | G01D5/12 | 分类号: | G01D5/12;G01B7/00 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 王皓 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 【课题】开发一种磁式方位·位置测量装置,其在大小足可容纳患者全身的空间中产生三维磁场,在足够大的三维空间中,对内置有磁场传感器的导入装置的方位和位置,实现20μm以下的空间分辨率、0.2度以下的方位分辨率,以及100μm以下的位置误差和1度以下的方位误差。【解决方案】提供一种磁式方位·位置测量装置,其包括:能够利用沿X轴、Y轴和Z轴产生的磁场而在预定的三维空间内产生均匀磁场和倾斜磁场的三维磁场发生装置;用于测量磁场强度的单轴磁场传感器;以及用于算出磁场传感器在三维空间中的位置和方位的运算装置。 | ||
搜索关键词: | 方位 位置 测量 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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