[发明专利]用于成分分析的系统和方法在审

专利信息
申请号: 201880029529.2 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN110603436A 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 里斯托·奥拉瓦;扬·卡尔森 申请(专利权)人: 森斯奈特公司
主分类号: G01N23/204 分类号: G01N23/204;G01V5/00
代理公司: 11219 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 达小丽;夏凯
地址: 芬兰*** 国省代码: 芬兰;FI
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提出了一种用于产生指示样本(110)中的一种或多种预定成分的存在的分析数据的系统(100)。该系统包括用于将粒子流(130)引向样本(110)的源设备(120),用于根据散射角(θ)测量从样本(110)散射的粒子的分布的检测器设备(140)和用于基于所测量的散射粒子的分布和基于指示一种或多种预定成分对散射粒子的分布的影响的参考信息来产生分析数据的处理设备(170)。与每个散射粒子有关的散射角是粒子流的到达方向与散射粒子的轨迹(160)之间的角度。该系统利用与不同同位素、不同化学物质和不同异构体有关的散射的不同方向特性。
搜索关键词: 散射粒子 分析数据 粒子流 散射角 散射 样本 测量 检测器 参考信息 处理设备 方向特性 化学物质 系统利用 指示样本 同位素 异构体 源设备 粒子
【主权项】:
1.一种用于产生指示样本(110、210)中的一种或多种预定成分的存在的分析数据的系统(100、200、300),所述系统包括源设备(120、220),用于将粒子流(130、230、330)引向所述样本(110、210),其特征在于,所述系统进一步包括:/n-检测器设备(140、240、340),所述检测器设备(140、240、340)用于至少根据散射角(θ
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于森斯奈特公司,未经森斯奈特公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880029529.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top