[发明专利]过电流检测装置、控制装置及过电流检测方法有效
| 申请号： | 201880020949.4 | 申请日： | 2018-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN110521122B | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 赤羽正志 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | H03K17/08 | 分类号： | H03K17/08;H02H7/20;H02M1/00;H02M1/08;H03K17/082 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 张欣;金玉兰 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 近年来，期望提高过电流的检测精度。本发明提供一种过电流检测装置，具备：栅极电流检测部，其检测流向半导体元件的栅极电流是否为基准栅极电流以上；感测电流检测部，其检测在上述半导体元件的感测发射极端子流通的感测电流是否为基准感测电流以上；以及调整部，其以上述栅极电流为上述基准栅极电流以上为条件，使上述感测电流的检测值相对于上述基准感测电流相对地减小。 | ||
| 搜索关键词： | 电流 检测 装置 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种过电流检测装置，其特征在于，具备：/n栅极电流检测部，其检测流向半导体元件的栅极电流是否为基准栅极电流以上；/n感测电流检测部，其检测在所述半导体元件的感测发射极端子流通的感测电流是否为基准感测电流以上；以及/n调整部，其以所述栅极电流为所述基准栅极电流以上为条件，使所述感测电流的检测值相对于所述基准感测电流相对地减小。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士电机株式会社，未经富士电机株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880020949.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于操控电子切换单元的装置
- 下一篇：用于确定电容传感器元件的接触时刻的方法
