[发明专利]发光二极管(LED)测试设备和制造方法在审
| 申请号： | 201880019926.1 | 申请日： | 2018-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN110462387A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 弗兰乔斯·J·亨利 | 申请（专利权）人： | 特索罗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 11240 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王红艳<国际申请>=PCT/US2018 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 实施例涉及用于制造包含发光二极管(LED)结构的产品的功能性测试方法。具体地，通过使用场板，经由位移电流耦合装置注入电流来功能性地测试LED阵列，该场板包括靠近LED阵列放置的电极和绝缘体。然后将受控电压波形施加到场板电极以并联激发LED装置得到高通量。相机记录由电激发产生的各个光发射，以产生多个LED装置的功能性测试。改变电压条件可以在不同的电流密度水平激发LED，以在功能上测量外部量子效率和其他重要的装置功能参数。 | ||
| 搜索关键词： | 功能性测试 场板 绝缘体 外部量子效率 发光二极管 电压条件 受控电压 位移电流 相机记录 注入电流 装置功能 耦合装置 板电极 电激发 高通量 光发射 电极 并联 激发 测量 施加 测试 制造 | ||
【主权项】：
1.一种用于观察来自发光装置结构的发光的设备，所述发光装置结构设置在支撑衬底上，所述支撑衬底具有能够从表面接近的第一接触层和包括在所述发光装置结构上的第二接触层，所述发光装置结构选自垂直发光装置结构或横向发光装置结构，所述设备包括：/n场板装置，所述场板装置具有第一面和与所述第一面相对的第二面，所述第二面包括导电层和上覆的介电层，所述介电层位于紧邻所述发光装置结构的第一接触层的至少一部分；/n电压源，用于产生电压，所述电压源能够生成时变电压波形，所述电压源具有第一端子和第二端子，所述第一端子具有耦接到所述场板装置的所述导电层的第一电位，所述第二端子处于第二电位，所述电压源能够向所述发光装置结构注入电容耦合电流，以使所述发光装置结构的至少一部分以一模式发射电磁辐射；以及/n检测器装置，耦接到所述发光装置结构，以形成源自所述发光装置结构的以所述模式的所述电磁辐射的图像。/n
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