[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器在审
| 申请号： | 201880017537.5 | 申请日： | 2018-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN110392844A | 公开（公告）日： | 2019-10-29 |
| 发明（设计）人： | R·森德;C·M·奥古恩;C·哈恩;M·埃伯斯帕奇;I·布鲁德;B·舍瓦 | 申请（专利权）人： | 特里纳米克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/46 | 分类号： | G01S17/46;G01S3/783;G01S7/481 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 杨晓光;于静 |
| 地址： | 德国莱茵河*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 提出了一种用于确定至少一个对象的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个角度相关光学元件(130)，其适于生成至少一个光束(131)，该至少一个光束(131)具有取决于从对象(112)朝向检测器(110)传播并照射角度相关光学元件(130)的入射光束(116)的入射角的至少一个光束轮廓，其中，该角度相关光学元件(130)包括选自如下的至少一个光学元件：至少一根光纤，特别是至少一根多分叉光纤，特别是至少一根双分叉光纤；至少一个衍射光学元件；至少一个角度相关反射元件，至少一个衍射光栅元件，特别是闪耀光栅元件；至少一个孔径光阑；至少一个棱镜；至少一个透镜；至少一个透镜阵列，特别是至少一个微透镜阵列；至少一个光学滤波器；至少一个偏振滤波器；至少一个带通滤波器；至少一个液晶滤波器，特别是液晶可调谐滤波器；至少一个短通滤波器；至少一个长通滤波器；至少一个陷波滤波器；至少一个干涉滤波器；至少一个透射光栅；至少一个非线性光学元件，特别是一个双折射光学元件；‑至少两个光学传感器(113)，其中，每个光学传感器(113)具有至少一个光敏区域(121)，其中，每个光学传感器(113)被设计成响应于由角度相关光学元件(130)生成的光束(131)对其相应光敏区域的照射而生成至少一个传感器信号；至少一个评估装置(133)，其被配置用于通过评估来自传感器信号的组合信号Q来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z。 | ||
| 搜索关键词： | 光学元件 检测器 光学传感器 传感器信号 分叉光纤 光敏区域 照射 液晶可调谐滤波器 非线性光学元件 双折射光学元件 透镜 衍射光学元件 衍射光栅元件 长通滤波器 带通滤波器 干涉滤波器 光学滤波器 偏振滤波器 微透镜阵列 陷波滤波器 液晶滤波器 反射元件 光束轮廓 光学检测 孔径光阑 评估装置 入射光束 闪耀光栅 通滤波器 透镜阵列 透射光栅 纵向坐标 组合信号 入射角 棱镜 光纤 响应 配置 评估 传播 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)，所述检测器(110)包括：‑至少一个角度相关光学元件(130)，其适于生成至少一个光束(131)，所述至少一个光束(131)具有取决于入射光束(116)的入射角的至少一个光束轮廓，所述入射光束(116)从所述对象(112)朝向所述检测器(110)传播并照射所述角度相关光学元件(130)，其中，所述角度相关光学元件(130)包括选自包括以下的至少一个光学元件：至少一根光纤，特别是至少一根多分叉光纤，特别是至少一根双分叉光纤；至少一个透镜阵列，其布置在垂直于所述检测器的光轴的至少一个平面中，特别是至少一个微透镜阵列；至少一个光学干涉滤波器；至少一个非线性光学元件，特别是一个双折射光学元件；‑至少一个传送装置(128)，其中，所述传送装置(128)响应于从所述对象(112)传播到所述检测器(110)的至少一个入射光束(116)而具有至少一个焦距；‑至少两个光学传感器(113)，其中，每个光学传感器(113)具有至少一个光敏区域(121)，其中，每个光学传感器(113)被设计成响应于由所述角度相关光学元件(130)生成的所述光束(131)对其相应光敏区域的照射而生成至少一个传感器信号；‑至少一个评估装置(133)，其被配置用于通过评估来自所述传感器信号的组合信号Q来确定所述对象(112)的至少一个纵向坐标z。
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