[发明专利]X射线检查装置有效

专利信息
申请号: 201880015777.1 申请日: 2018-03-20
公开(公告)号: CN110383051B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 长野雅実;鹤祥司 申请(专利权)人: 东芝IT·控制系统株式会社
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张晓霞;臧建明
地址: 日本东京新宿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种X射线检查装置,其可制作仅CT图像的再构成所需要的区域的X射线透视图像。图像获取部(71)从X射线检测器(3)中获取用于判定视场缺失区域的基准图像与成为修剪的对象的工件的图像。平均亮度值计算部(72)计算基准图像中的无视场缺失的图像的平均亮度值。视场缺失区域判定部(73)针对所拍摄的透视图像,将具有未满平均亮度值计算部(72)所计算的平均亮度值的阈值的亮度的像素判定为视场缺失区域。修剪图像获取部(75)从拍摄工件所得的图像中,获取视场缺失区域以外的X射线透视图像。再构成处理部(8)根据视场缺失区域以外的X射线透视图像,再构成CT图像。
搜索关键词: 射线 检查 装置
【主权项】:
1.一种X射线检查装置,是包括X射线的照射源、载置检查对象物的工作台、及接收透过了检查对象物的X射线并检测其透过图像的X射线检测器的X射线检查装置,其特征在于,包括:移位机构,使所述X射线检测器沿着X射线的光轴移动;控制部,对利用所述移位机构的所述X射线检测器的移动进行控制;图像获取部,从所述X射线检测器中获取用于判定视场缺失区域的基准图像与成为修剪的对象的检查对象物的图像;平均亮度值计算部,计算基准图像中的无视场缺失的图像的平均亮度值;视场缺失区域判定部,针对所拍摄的X射线透视图像,将具有未满所述平均亮度值计算部所计算的平均亮度值的阈值的亮度的像素判定为视场缺失区域;修剪图像获取部,从拍摄检查对象物所得的图像中,获取所述视场缺失区域判定部所判定的视场缺失区域以外的X射线透视图像作为修剪区域的图像;以及再构成处理部,根据所述修剪图像获取部所获取的修剪区域的X射线透视图像,再构成CT图像。
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