[发明专利]X射线分析辅助设备和X射线分析设备有效
| 申请号： | 201880015532.9 | 申请日： | 2018-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN110383052B | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 谷口弥生;森川惠一 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008;G01N23/201;G01N23/205;G01N23/207 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 高文静 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 根据本发明的X射线分析辅助设备设置有：输入和操作设备24，用于任意地输入和设置样品S和二维检测器2之间的距离L以及由样品S散射或衍射的X射线的最大检测范围Xmax中的一个的值；以及中央处理单元20，用于基于由输入和操作设备24设置的一个设置项目的值来自动设置另一个设置项目。另外，基于距离L和最大检测范围Xmax，在显示设备21的显示屏22上显示X射线的最大测量帧Hmax。此外，在显示设备21的显示屏22上显示X射线检测区域A，X射线检测区域A指示其内二维检测器2的检测表面可以检测X射线的范围。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 分析 辅助 设备 | ||
【主权项】：
1.一种针对X射线分析设备的X射线分析辅助设备，所述X射线分析设备用于在来自X射线源的X射线入射到样品时通过二维检测器检测由样品散射或衍射的X射线，并且所述X射线分析辅助设备用于设置X射线分析设备的测量条件，其特征在于，样品和二维检测器之间的距离L以及期望作为由样品散射或衍射的X射线的测量数据被获取的检测最大范围Xmax被包含作为设置项目；表示其中二维检测器的检测面能够检测X射线的范围的X射线检测区域A，以及表示其中检测最大范围Xmax中的X射线入射到包含二维检测器的检测面的测量平面的广角侧上的边界的最大测量帧Hmax被包含作为显示项目；并且所述X射线分析辅助设备包括：设置值输入部件，用于输入与距离L和检测最大范围Xmax对应的值中的一个，自动设置部件，用于基于由设置值输入部件输入的与一个设置项目对应的值自动设置另一设置项目；以及显示部件，用于基于距离L和检测最大范围Xmax在显示屏上显示最大测量帧Hmax，并在显示屏上显示X射线检测区域A。
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