[实用新型]半导体测试机校准装置有效
| 申请号： | 201822161718.5 | 申请日： | 2018-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN209460389U | 公开（公告）日： | 2019-10-01 |
| 发明（设计）人： | 王武林 | 申请（专利权）人： | 捷硕（长泰）电力电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京市京大律师事务所 11321 | 代理人： | 刘玮 |
| 地址： | 363000 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了半导体测试机校准装置，包括底座，所述底座的顶部开设有通槽，所述通槽内部的两侧均滑动连接有活动杆，所述通槽中部的上方设置有过线套，所述活动杆和过线套之间设置有连接结构，所述底座的顶部且位于通槽的前后两侧均设置有固定结构。本实用新型通过底座、通槽、活动杆、过线套、连接结构、固定结构和引线结构的设置，可以方便对装置进行活动调节，同时解决了在测试通路的损耗时，将功率探头通过射频线与该条通路末端相连，射频线部分处于悬空的自由状态，容易被人为不注意触碰或是外力拉扯，影响测试结果的问题，该半导体测试机校准装置，具备可以对射频线固定的优点，值得推广。 | ||
| 搜索关键词： | 通槽 底座 半导体测试 校准装置 活动杆 射频线 过线 本实用新型 固定结构 连接结构 影响测试结果 测试通路 滑动连接 活动调节 通路末端 引线结构 自由状态 固定的 探头 触碰 拉扯 悬空 | ||
【主权项】：
1.半导体测试机校准装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部开设有通槽(2)，所述通槽(2)内部的两侧均滑动连接有活动杆(3)，所述通槽(2)中部的上方设置有过线套(4)，所述活动杆(3)和过线套(4)之间设置有连接结构(5)，所述底座(1)的顶部且位于通槽(2)的前后两侧均设置有固定结构(6)，所述底座(1)的正面与背面均设置有引线结构(7)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于捷硕（长泰）电力电子有限公司，未经捷硕（长泰）电力电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201822161718.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
