[实用新型]应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具有效

专利信息
申请号: 201822122246.2 申请日: 2018-12-17
公开(公告)号: CN209223903U 公开(公告)日: 2019-08-09
发明(设计)人: 王国建;佘福良 申请(专利权)人: 积高电子(无锡)有限公司
主分类号: B25B11/00 分类号: B25B11/00
代理公司: 无锡知之火专利代理事务所(特殊普通合伙) 32318 代理人: 陈琦
地址: 214161 江苏省无锡市滨湖区胡埭工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供了一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具,涉及图像传感器领域;包括测试底板和设置于所述测试底板上的用于放置CMOS图像传感器的凹部;所述测试底板上还竖直设置有用于CMOS图像传感器图像测试的测试箱;所述测试箱的开口开设于所述测试箱的底部;所述测试箱罩于所述凹部的上方;所述测试箱可以相对于所述测试底板盖合或打开。本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具,在测试机底板上设置测试箱,使CMOS图像传感器完成常规测试后直接进行图像测试,解决了现有技术中多次运输CMOS图像传感器至不同的测试区域以完成不同的测试导致运输过程中对CMOS图像传感器造成污染和磨损的问题。
搜索关键词: 测试箱 测试底板 测试机 测试夹具 本实用新型 图像测试 凹部 底板 应用 图像传感器 测试区域 常规测试 竖直设置 运输过程 盖合 磨损 开口 测试 污染 运输
【主权项】:
1.一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具,包括测试底板和设置于所述测试底板上的用于放置CMOS图像传感器的凹部;其特征在于,所述测试底板上还竖直设置有用于CMOS图像传感器图像测试的测试箱;所述测试箱的开口开设于所述测试箱的底部;所述测试箱罩于所述凹部的上方;所述测试箱可以相对于所述测试底板盖合或打开。
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