[实用新型]应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具

说明书

本实用新型提供了一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，涉及图像传感器领域；包括测试底板和设置于所述测试底板上的用于放置CMOS图像传感器的凹部；所述测试底板上还竖直设置有用于CMOS图像传感器图像测试的测试箱；所述测试箱的开口开设于所述测试箱的底部；所述测试箱罩于所述凹部的上方；所述测试箱可以相对于所述测试底板盖合或打开。本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，在测试机底板上设置测试箱，使CMOS图像传感器完成常规测试后直接进行图像测试，解决了现有技术中多次运输CMOS图像传感器至不同的测试区域以完成不同的测试导致运输过程中对CMOS图像传感器造成污染和磨损的问题。

技术领域

本实用新型涉及图像传感器领域，尤其涉及一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具。

背景技术

CMOS是Complementary Metal Oxide Semiconductor(互补金属氧化物半导体)的缩写。它是指制造大规模集成电路芯片用的一种技术或用这种技术制造出来的芯片，是电脑主板上的一块可读写的RAM芯片。因为可读写的特性，所以在电脑主板上用来保存BIOS设置完电脑硬件参数后的数据，这个芯片仅仅是用来存放数据的。

对CMOS图像传感器进行测试除了常规的电压、电流、电阻，还需要测图像，测图像的话需要根据产品的感光，暗和亮，通过算法来区别。

现有的CMOS图像传感器测试机各道测试工序分离，需要多次运输CMOS图像传感器至不同的测试区域以完成不同的测试，不仅设备复杂，成本高，而且运输过程中会对CMOS图像传感器造成污染和磨损，导致CMOS图像传感器测试数据不准确。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型提供了一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，以解决现有技术中存在的多次运输CMOS图像传感器至不同的测试区域以完成不同的测试导致运输过程中对CMOS图像传感器造成污染和磨损的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，包括测试底板和设置于所述测试底板上的用于放置CMOS图像传感器的凹部；所述测试底板上还竖直设置有用于CMOS图像传感器图像测试的测试箱；所述测试箱的开口开设于所述测试箱的底部；所述测试箱罩于所述凹部的上方；所述测试箱可以相对于所述测试底板盖合或打开。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，优选地，所述测试箱内至少设置有光源、用于使所述光源的光均匀扩散的均光装置和用于使均匀扩散的光照射到CMOS图像传感器上的聚焦装置；所述光源、所述均光装置和所述聚焦装置由上至下依次设置。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，优选地，所述光源为可调节亮度的光源。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，优选地，所述光源为LED灯板。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，优选地，所述均光装置为均光板；所述均光板水平设置；所述均光板的四周与所述测试箱内壁紧密固定连接，所述均光板完全分隔所述测试箱。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，优选地，所述聚焦装置为聚焦镜头。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，优选地，所述均光装置与所述测试底板之间设置有隔板；所述隔板水平设置；所述隔板的四周与所述测试箱内壁紧密固定连接，所述隔板完全分隔所述测试箱；所述聚焦镜头贯穿所述隔板并与所述隔板固定。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具，优选地，所述测试箱与所述测试底板之间通过铰链连接。

上述技术方案，具有如下优点或有益效果：