[实用新型]检测装置有效

专利信息
申请号: 201822086565.2 申请日: 2018-12-13
公开(公告)号: CN209311330U 公开(公告)日: 2019-08-27
发明(设计)人: 李青格乐;陈晓静;方一;陈鲁 申请(专利权)人: 深圳中科飞测科技有限公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01N21/88
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 颜镝
地址: 518110 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本公开涉及一种检测装置。检测装置包括:暗场线光源(30),设置在具有至少一个弯曲检测表面的待检测物体(10)的一侧,用于向所述弯曲检测表面提供暗场探测光,所述弯曲检测表面在第一弯曲方向上至少有两个位置的法线不平行;和线探测器(20),设置在所述待检测物体(10)的靠近所述暗场线光源(30)的一侧,用于采集所述暗场探测光在所述待检测物体(10)表面的漫反射光或散射光;所述暗场线光源的出光面与所述线探测器(20)的镜头的光轴面平行或重合,且所述暗场线光源的出光面与所述弯曲检测表面的法线不平行。本公开实施例能够有效地实现弯曲表面的暗场检测。
搜索关键词: 暗场 弯曲检测 线光源 待检测物体 法线 检测装置 线探测器 不平行 出光面 探测光 有效地实现 暗场检测 漫反射光 弯曲表面 弯曲方向 光轴面 散射光 种检测 重合 平行 采集 镜头
【主权项】:
1.一种检测装置,其特征在于,包括:暗场线光源(30),设置在具有至少一个弯曲检测表面的待检测物体(10)的一侧,用于向所述弯曲检测表面提供暗场探测光,所述弯曲检测表面在第一弯曲方向上至少有两个位置的法线不平行;和线探测器(20),设置在所述待检测物体(10)的靠近所述暗场线光源(30)的一侧,用于采集所述暗场探测光在所述待检测物体(10)表面的漫反射光或散射光;其中,所述暗场线光源(30)的出光面与所述线探测器(20)的镜头的光轴面平行或重合,且所述暗场线光源(30)的出光面与所述弯曲检测表面的法线不平行。
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