[实用新型]用于分析氯硅烷中痕量杂质的前处理系统有效
申请号: | 201822083005.1 | 申请日: | 2018-12-12 |
公开(公告)号: | CN209690000U | 公开(公告)日: | 2019-11-26 |
发明(设计)人: | 罗建文;邱艳梅;刘国霞;曾凤;罗丹;陈星;唐华华 | 申请(专利权)人: | 新疆新特新能材料检测中心有限公司 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N1/44 |
代理公司: | 11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 罗建民;张萍<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 831500 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐*** | 国省代码: | 新疆;65 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实施例公开了一种用于分析氯硅烷中痕量杂质的前处理系统,包括:消解罐,包括:罐体和盖设于罐体上的盖体,罐体与盖体密封连接,罐体用于盛放待处理的氯硅烷样品,盖体上开设有第一开口、第二开口;第一管道,第一管道与第一开口密封连接,第一管道的第一端穿过第一开口且位于罐体内,第一管道用于向消解罐内通入载气;第二管道,第二管道与第二开口密封连接,第二管道的第一端穿过第二开口且位于罐体内,第二管道用于输出负载有氯硅烷的载气;加热装置,其上设置有加热区,加热区用于容纳消解罐并对其进行加热。该前处理系统避免了待处理的氯硅烷样品受到二次污染,且通过载气的携带蒸发出来的氯硅烷,可减少蒸发氯硅烷的时间,提高工作效率。 | ||
搜索关键词: | 氯硅烷 第二管道 第一管道 罐体 开口 载气 前处理系统 开口密封 第一端 加热区 消解罐 盖体 蒸发 体内 穿过 二次污染 盖体密封 工作效率 痕量杂质 加热装置 盖设 盛放 加热 消解 容纳 输出 携带 分析 | ||
【主权项】:
1.一种用于分析氯硅烷中痕量杂质的前处理系统,其特征在于,包括:/n消解罐,包括:罐体和盖设于罐体上的盖体,罐体与盖体密封连接,罐体用于盛放待处理的氯硅烷样品,盖体上开设有第一开口、第二开口;/n第一管道,第一管道与第一开口密封连接,第一管道的第一端穿过第一开口且位于罐体内,第一管道用于向消解罐内通入载气;/n第二管道,第二管道与第二开口密封连接,第二管道的第一端穿过第二开口且位于罐体内,第二管道用于输出负载有氯硅烷的载气;/n加热装置,其上设置有加热区,加热区用于容纳消解罐并对其进行加热。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新疆新特新能材料检测中心有限公司,未经新疆新特新能材料检测中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201822083005.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种混凝土试样快速饱和装置
- 下一篇:一种马歇尔电动击实仪