[实用新型]一种双排测试板结构

摘要

本实用新型公开了一种双排测试板结构，包括测试板本体，所述测试板本体上表面固定设置有隔板，所述测试板本体上表面靠近所述隔板内侧固定设置有测试头，所述测试头上表面固定设置有BGA封装芯片，所述隔板上表面固定设置有粘接层，所述粘接层上表面固定设置有铝箔盖，所述测试板本体下表面固定设置有垫板；在BGA封装芯片固定座外侧壁贯穿推杆，当BGA封装芯片的大小比BGA封装芯片固定座小时，可以将推杆向BGA封装芯片固定座内部推动，使得推杆可以固定住BGA封装芯片，使得BGA封装芯片固定座通过推杆可以固定不同型号的BGA封装芯片，同时在推杆的一端设置缓冲海绵，通过缓冲海绵可以避免推杆跟BGA封装芯片直接接触。

主权项

1.一种双排测试板结构，包括测试板本体(5)，所述测试板本体(5)上表面固定设置有隔板(3)，所述测试板本体(5)上表面靠近所述隔板(3)内侧固定设置有测试头(6)，所述测试头(6)上表面固定设置有BGA封装芯片(7)，所述隔板(3)上表面固定设置有粘接层(9)，所述粘接层(9)上表面固定设置有铝箔盖(1)，其特征在于：所述测试板本体(5)下表面固定设置有垫板(4)，所述BGA封装芯片固定座(8)外侧贯穿有推杆(10)，所述推杆(10)内侧靠近所述BGA封装芯片(7)外侧固定设置有缓冲海绵(11)。