[实用新型]一种相对位置度测量装置有效
| 申请号： | 201821813151.9 | 申请日： | 2018-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN208795180U | 公开（公告）日： | 2019-04-26 |
| 发明（设计）人： | 周群飞;罗宇珊 | 申请（专利权）人： | 蓝思科技（长沙）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 410100 湖南省长*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种相对位置度测量装置，包括：用于定位工件的测量底座；分别用于获取一次定位后工件上相对的两个特征面的坐标数据的两个测量部件；与测量部件相连、用于对坐标数据进行处理以得到两个特征面的相对位置度的处理器。该相对位置度测量装置通过采用两个测量部件来分别测量一次定位后的工件上相对的两个特征面，避免现有技术中采用一个测量部件且通过改变工件定位基准的方式来测量相对的两个特征面，因此，避免了因定位基准不同所引入的基准误差，提高了测量的准确性；同时，避免对工件进行两次定位操作，简化了操作步骤，方便测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测量部件 位置度测量装置 测量 一次定位 坐标数据 特征面 本实用新型 测量底座 定位操作 定位工件 定位基准 工件定位 基准误差 位置度 处理器 引入 | ||
【主权项】：
1.一种相对位置度测量装置，其特征在于，包括：用于定位工件的测量底座(1)；分别用于获取一次定位后所述工件上相对的两个特征面的坐标数据的两个测量部件(2)；与所述测量部件(2)相连、用于对所述坐标数据进行处理以得到两个所述特征面的相对位置度的处理器。
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