[实用新型]直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯含量的分析装置

摘要

本实用新型涉及一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。本实用新型的优点在于样品无需前处理，适用于固体和液体样品，具有无损、直接、快速、灵敏度高、使用成本低、便于现场测量等特点。

主权项

1.一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，其特征在于：该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；其中，所述X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)，能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；样品杯(300)，能够放置液体或固体样品，具有可透过X射线的至少一层薄膜；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。