[实用新型]一种光器件测试装置有效

专利信息
申请号: 201821675603.1 申请日: 2018-10-16
公开(公告)号: CN208902776U 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 赖人铭 申请(专利权)人: 成都英思嘉半导体技术有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/44
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 韩洋
地址: 610041 四川省成都市高新区*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种光器件测试装置,包括测试插座,用于可拆卸连接被测试的光器件,测试插座包括绝缘壳体,绝缘壳体上设有散热块和若干个插针,每个插针用于可拆卸连接光器件上对应的针脚;测试电路板,其上设有若干个测试触点,测试插座连接于测试电路板的正面,测试电路板的背面设有散热板,散热块和所有插针贯穿测试电路板,散热块连接散热板,所有插针连接对应的测试触点。运用本实用新型的一种光器件测试装置,测试插座上设有散热块,散热块连接测试电路板上的散热板,当被测试的光器件与测试插座连接并开始通电测试后,光器件产生的热量导入测试插座,并由散热块传导至散热板散热,能够有效降低光器件的温度,从而保证光器件测试的准确性。
搜索关键词: 测试插座 散热块 光器件 测试电路板 光器件测试 散热板 插针 本实用新型 可拆卸连接 测试触点 绝缘壳体 针脚 电路板 测试 连接测试 通电测试 散热 传导 背面 贯穿 保证
【主权项】:
1.一种光器件测试装置,其特征在于,包括:测试插座(1),用于可拆卸连接被测试的光器件(3),所述测试插座(1)包括绝缘壳体(11),所述绝缘壳体(11)上设有散热块(13)和若干个插针(12),每个所述插针(12)用于可拆卸连接所述光器件(3)上对应的针脚(31);测试电路板(2),其上设有若干个测试触点(24),所述测试插座(1)连接于所述测试电路板(2)的正面(21),所述测试电路板(2)的背面(22)设有散热板(23),所述散热块(13)和所有所述插针(12)贯穿所述测试电路板(2),所述散热块(13)连接所述散热板(23),所有所述插针(12)连接对应的所述测试触点(24)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都英思嘉半导体技术有限公司,未经成都英思嘉半导体技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821675603.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top