[实用新型]一种光器件测试装置有效
申请号: | 201821675603.1 | 申请日: | 2018-10-16 |
公开(公告)号: | CN208902776U | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 赖人铭 | 申请(专利权)人: | 成都英思嘉半导体技术有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/44 |
代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 韩洋 |
地址: | 610041 四川省成都市高新区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种光器件测试装置,包括测试插座,用于可拆卸连接被测试的光器件,测试插座包括绝缘壳体,绝缘壳体上设有散热块和若干个插针,每个插针用于可拆卸连接光器件上对应的针脚;测试电路板,其上设有若干个测试触点,测试插座连接于测试电路板的正面,测试电路板的背面设有散热板,散热块和所有插针贯穿测试电路板,散热块连接散热板,所有插针连接对应的测试触点。运用本实用新型的一种光器件测试装置,测试插座上设有散热块,散热块连接测试电路板上的散热板,当被测试的光器件与测试插座连接并开始通电测试后,光器件产生的热量导入测试插座,并由散热块传导至散热板散热,能够有效降低光器件的温度,从而保证光器件测试的准确性。 | ||
搜索关键词: | 测试插座 散热块 光器件 测试电路板 光器件测试 散热板 插针 本实用新型 可拆卸连接 测试触点 绝缘壳体 针脚 电路板 测试 连接测试 通电测试 散热 传导 背面 贯穿 保证 | ||
【主权项】:
1.一种光器件测试装置,其特征在于,包括:测试插座(1),用于可拆卸连接被测试的光器件(3),所述测试插座(1)包括绝缘壳体(11),所述绝缘壳体(11)上设有散热块(13)和若干个插针(12),每个所述插针(12)用于可拆卸连接所述光器件(3)上对应的针脚(31);测试电路板(2),其上设有若干个测试触点(24),所述测试插座(1)连接于所述测试电路板(2)的正面(21),所述测试电路板(2)的背面(22)设有散热板(23),所述散热块(13)和所有所述插针(12)贯穿所述测试电路板(2),所述散热块(13)连接所述散热板(23),所有所述插针(12)连接对应的所述测试触点(24)。
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