[实用新型]用于测定硅胶磨耗率的装置有效

专利信息
申请号: 201821376776.3 申请日: 2018-08-25
公开(公告)号: CN208607133U 公开(公告)日: 2019-03-15
发明(设计)人: 李波 申请(专利权)人: 山东瑞达硅胶有限公司
主分类号: G01N19/00 分类号: G01N19/00
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 季英健
地址: 276000 山东省临*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 本申请公开了一种用于测定硅胶磨耗率的装置,属于块状硅胶试验装置,用于硅胶磨耗率的检测,其包括对称设置的两个机架,机架上安装有轴承座,轴承座与主驱动轴连接,主驱动轴上安装有转盘,相邻的转盘之间通过轴承结构安装有副驱动轴,所述副驱动轴上设置有两个限位块,限位块之间的副驱动轴上加工有纹路区,副驱动轴为四根,绕转盘的圆周均匀分布,在四根副驱动轴构成的内部空间中安装有转筒,转筒的外表面与纹路区接触传动;所述的副驱动轴的末端安装有驱动轮,在转盘的下方设置有弧形驱动轨道,弧形驱动轨道通过支架安装于机架上,弧形驱动轨道的内侧与驱动轮接触传动。其提供了一种新的用于检测磨耗率的试验装置,以提高磨耗率的检测效率。
搜索关键词: 副驱动轴 磨耗率 转盘 驱动轨道 硅胶 接触传动 试验装置 主驱动轴 驱动轮 纹路区 限位块 轴承座 转筒 检测 圆周均匀分布 对称设置 块状硅胶 支架安装 轴承结构 加工 申请
【主权项】:
1.一种用于测定硅胶磨耗率的装置,包括对称设置的两个机架(1),机架(1)上安装有轴承座(3),轴承座(3)与主驱动轴(4)连接,主驱动轴(4)上安装有转盘(5),相邻的转盘(5)之间通过轴承结构安装有副驱动轴(7),其特征在于:所述副驱动轴(7)上设置有两个限位块(8),限位块(8)之间的副驱动轴(7)上加工有纹路区(11),所述的副驱动轴(7)为四根,绕转盘(5)的圆周均匀分布,在四根副驱动轴(7)构成的内部空间中安装有转筒(9),转筒(9)的外表面与纹路区(11)接触传动;所述的副驱动轴(7)的末端安装有驱动轮(6),在转盘(5)的下方设置有弧形驱动轨道(12),弧形驱动轨道(12)通过支架(13)安装于机架(1)上,弧形驱动轨道(12)的内侧与驱动轮(6)接触传动。
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