[实用新型]一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪有效
| 申请号： | 201821270218.9 | 申请日： | 2018-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN208432234U | 公开（公告）日： | 2019-01-25 |
| 发明（设计）人： | 祁显祖 | 申请（专利权）人： | 苏州笙谷精密仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02;G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。本实用新型的技术方案是：一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，包括壳体，所述壳体上设置有盖体，所述盖体上设置有可视查看组件，所述可视产看组件包括固定设置在盖体上的内玻璃层与外玻璃层，所述内玻璃层和外玻璃层之间设置有调光膜层，所述调光膜层开启时为透明状，关闭时为雾状，所述内玻璃层上设置有防眩光镀膜层，所述外玻璃层上设置有纳米级负离子粉层，所述盖体与壳体之间通过转轴连接，所述盖体上设置有拉手。本实用新型提供的方案能够自由的选择可视查看组件的是为透明状态还是不透明状态，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 盖体 本实用新型 材料分析仪 内玻璃层 外玻璃层 测厚 镀层 壳体 可视 查看组件 调光膜层 不透明状态 负离子粉层 固定设置 透明状态 转轴连接 组件包括 镀膜层 纳米级 透明状 雾状 眩光 拉手 自由 | ||
【主权项】：
1.一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，其特征在于：包括壳体，所述壳体上设置有盖体，所述盖体上设置有可视查看组件，所述可视产看组件包括固定设置在盖体上的内玻璃层与外玻璃层，所述内玻璃层和外玻璃层之间设置有调光膜层，所述调光膜层开启时为透明状，关闭时为雾状。
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