[实用新型]一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

说明书

本实用新型公开了一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。本实用新型的技术方案是：一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，包括壳体，所述壳体上设置有盖体，所述盖体上设置有可视查看组件，所述可视产看组件包括固定设置在盖体上的内玻璃层与外玻璃层，所述内玻璃层和外玻璃层之间设置有调光膜层，所述调光膜层开启时为透明状，关闭时为雾状，所述内玻璃层上设置有防眩光镀膜层，所述外玻璃层上设置有纳米级负离子粉层，所述盖体与壳体之间通过转轴连接，所述盖体上设置有拉手。本实用新型提供的方案能够自由的选择可视查看组件的是为透明状态还是不透明状态，使用方便。

技术领域

本实用新型涉及检测仪器设备技术领域，特别涉及一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。

背景技术

X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。现有技术的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪存在的缺点是有的不设置观察窗，这样在检测时较难观察，有的设置玻璃观察窗，这样在不需要观察时就会造成光污染需要使用帘布进行遮挡，使用不够方便。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的主要目的在于提供一种自由的选择盖体为透明状态还是不透明状态粉一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，包括壳体，所述壳体上设置有盖体，所述盖体上设置有可视查看组件，所述可视产看组件包括固定设置在盖体上的内玻璃层与外玻璃层，所述内玻璃层和外玻璃层之间设置有调光膜层，所述调光膜层开启时为透明状，关闭时为雾状。

优选的，所述内玻璃层上设置有防眩光镀膜层。

优选的，所述外玻璃层上设置有纳米级负离子粉层。

优选的，所述盖体与壳体之间通过转轴连接，所述盖体上设置有拉手。

本实用新型相对于现有技术具有如下优点，其特点在于能够通过调光膜断电与开启时的特性，自由的选择可视查看组件的是为透明状态还是不透明状态，这样能够在需要观察时，将调光膜通电开启进行观察，在不需要观察时，能够将调光膜断电使得可视查看组件为不透明状态，防止检测仪内的光线漏光，对检测人员造成光线污染。其中内玻璃层和外玻璃层与盖体直接连接起到对调光膜进行密封和支撑的作用。本方案的结构简答，使用方便，具有非常好的实用性。

附图说明

图1为本实用新型的一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪的结构示意图；

图2为本实用新型的一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪的盖体的剖视图。

图中：1、壳体；2、盖体；3、内玻璃层；4、外玻璃层；5、调光膜层；7、防眩光镀膜层；8、纳米级负离子粉层；9、转轴；10、拉手。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

如图1所示，一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，包括壳体1，所述壳体1上设置有盖体2，所述盖体2上设置有可视查看组件，所述可视产看组件包括固定设置在盖体2上的内玻璃层3与外玻璃层4，所述内玻璃层3和外玻璃层4之间设置有调光膜层5，所述调光膜层5开启时为透明状，关闭时为雾状。

本实用新型的一种X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，其特点在于能够通过调光膜断电与开启时的特性，自由的选择可视查看组件的是为透明状态还是不透明状态，这样能够在需要观察时，将调光膜通电开启进行观察，在不需要观察时，能够将调光膜断电使得可视查看组件为不透明状态，防止检测仪内的光线漏光，对检测人员造成光线污染。其中内玻璃层3和外玻璃层4与盖体2直接连接起到对调光膜进行密封和支撑的作用。本方案的结构简答，使用方便，具有非常好的实用性。