[实用新型]T组件测试系统有效

专利信息
申请号: 201820616829.8 申请日: 2018-04-26
公开(公告)号: CN208076623U 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: 杨立仲;吴光胜;冯军正 申请(专利权)人: 深圳市华讯方舟微电子科技有限公司;华讯方舟科技有限公司
主分类号: G01R27/28 分类号: G01R27/28
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 官建红
地址: 518102 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型适用于产品测试技术领域,提供了一种T组件测试系统,包括用于控制指令发生器和T组件测试仪器的上位机、用于向待测T组件发送时钟信号、锁存信号和数据信号的指令发生器和用于向待测T组件发送射频输入信号并测试待测T组件性能参数的T组件测试仪器;所述上位机分别与所述指令发生器和所述T组件测试仪器连接,所述指令发生器与所述待测T组件的低频输入端连接,所述T组件测试仪器分别与所述待测T组件的射频输入端和所述待测T组件的待测输出端连接,所述待测T组件的非待测输出端分别通过负载进行接地。本实用新型测试精度高,可靠稳定,无需纯手动测试,自动化程度高,操作步骤简单,测试效率高,生产成本低。
搜索关键词: 组件测试 指令发生器 本实用新型 上位机 控制指令发生器 射频输入信号 低频输入端 射频输入端 生产成本低 输出端连接 测试 测试效率 产品测试 发送时钟 手动测试 数据信号 锁存信号 性能参数 仪器连接 接地 输出端 自动化 发送
【主权项】:
1.一种T组件测试系统,其特征在于,包括用于控制指令发生器和T组件测试仪器的上位机、用于向待测T组件发送时钟信号、锁存信号和数据信号的指令发生器和用于向待测T组件发送射频输入信号并测试待测T组件性能参数的T组件测试仪器;所述上位机分别与所述指令发生器和所述T组件测试仪器连接,所述指令发生器与所述待测T组件的低频输入端连接,所述T组件测试仪器分别与所述待测T组件的射频输入端和所述待测T组件的待测输出端连接,所述待测T组件的非待测输出端分别通过负载进行接地。
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