[实用新型]一种翻盖式IC测试座

摘要

本实用新型公开了一种翻盖式IC测试座，由固定座、芯片座和闭合盖构成，所述芯片座固定于固定座上，所述闭合盖通过连接装置与芯片座连接，所述芯片座上设有芯片槽和卡槽，所述闭合盖两面的结构对应一致，所述闭合盖上设有芯片垫板和卡扣；所述连接装置由于固定柱、伸缩柱、第一固定盘和第二固定盘构成，所述伸缩柱的一端嵌合于固定柱的内部且与固定柱转动连接，所述伸缩柱另一端与第一固定盘盘体固定连接。通过闭合盖和芯片座伸缩式翻转结构的设计，可以随意改变闭合盖和芯片座之间的位置和角度，方便了测试座的维修和整体的检测，通过闭合盖双面闭合结构的设计，解决了闭合盖损坏整体拆卸过程的繁琐性，减免了更换闭合盖费用的支出。

主权项

1.一种翻盖式IC测试座，由固定座(1)、芯片座(2)和闭合盖(6)构成，其特征在于：所述芯片座(2)固定于固定座(1)上，所述闭合盖(6)通过连接装置(5)与芯片座(2)连接，所述芯片座(2)上设有芯片槽(3)和卡槽(4)，所述闭合盖(6)两面的结构对应一致，所述闭合盖(6)上设有芯片垫板(7)和卡扣(8)；所述连接装置(5)由于固定柱(9)、伸缩柱(10)、第一固定盘(11)和第二固定盘(12)构成，所述伸缩柱(10)的一端嵌合于固定柱(9)的内部且与固定柱(9)转动连接，所述伸缩柱(10)另一端与第一固定盘(11)盘体固定连接，所述第二固定盘(12)与固定柱(9)固定连接，所述第一固定盘(11)和第二固定盘(12)盘心上均设有旋转螺丝，所述旋转螺丝均通过转轴(13)贯穿衔接。