[实用新型]一种基于磁共振成像的光散射测量电路有效
申请号: | 201820523165.0 | 申请日: | 2018-04-13 |
公开(公告)号: | CN208172226U | 公开(公告)日: | 2018-11-30 |
发明(设计)人: | 刘子龙;蒋依芹;甘海勇;张巧香 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01R33/48 | 分类号: | G01R33/48;G01N21/47 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 闫焕娟;宋志强 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供了一种基于磁共振成像的光散射测量电路,控制基于磁共振成像的光散射测量装置进行光散射测量,所述光散射测量电路包括:光源发生器,所述光源发生器电连接所述光散射测量装置;光探测器,所述光探测器电连接所述光散射测量装置;时域跟随器,所述时域跟随器电连接所述光散射测量装置;时域调制器,所述时域调制器电连接所述时域跟随器、并电连接所述光源发生器和所述光探测器中的一者,所述时域跟随器电连接所述光源发生器和所述光探测器中的另一者;处理器,所述处理器电连接所述光探测器、所述光散射测量装置以及所述时域跟随器。光散射测量电路控制并配合光散射测量装置实现对光散射的测量,获得连续光散射强度信号分布图。 | ||
搜索关键词: | 电连接 光散射测量装置 时域 光探测器 跟随器 光散射 光源发生器 测量电路 磁共振成像 调制器 散射 处理器 测量 本实用新型 强度信号 分布图 连续光 配合 | ||
【主权项】:
1.一种基于磁共振成像的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)用于连接产生磁共振光散射分布图的光散射测量装置(10),所述光散射测量电路(20)包括:光源发生器(21),所述光源发生器(21)电连接所述光散射测量装置(10);光探测器(22),所述光探测器(22)电连接所述光散射测量装置(10);时域跟随器(23),所述时域跟随器(23)电连接所述光散射测量装置(10);时域调制器(24),所述时域调制器(24)电连接所述时域跟随器(23)、并电连接所述光源发生器(21)和所述光探测器(22)中的一者,所述时域跟随器(23)电连接所述光源发生器(21)和所述光探测器(22)中的另一者;处理器(25),所述处理器(25)电连接所述光探测器(22)、所述光散射测量装置(10)以及所述时域跟随器(23)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201820523165.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种双光束磁光谱仪
- 下一篇:一种磁共振成像仪的质控模体