[实用新型]一种基于磁共振成像的光散射测量电路有效
申请号: | 201820523165.0 | 申请日: | 2018-04-13 |
公开(公告)号: | CN208172226U | 公开(公告)日: | 2018-11-30 |
发明(设计)人: | 刘子龙;蒋依芹;甘海勇;张巧香 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01R33/48 | 分类号: | G01R33/48;G01N21/47 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 闫焕娟;宋志强 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电连接 光散射测量装置 时域 光探测器 跟随器 光散射 光源发生器 测量电路 磁共振成像 调制器 散射 处理器 测量 本实用新型 强度信号 分布图 连续光 配合 | ||
1.一种基于磁共振成像的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)用于连接产生磁共振光散射分布图的光散射测量装置(10),所述光散射测量电路(20)包括:
光源发生器(21),所述光源发生器(21)电连接所述光散射测量装置(10);
光探测器(22),所述光探测器(22)电连接所述光散射测量装置(10);
时域跟随器(23),所述时域跟随器(23)电连接所述光散射测量装置(10);
时域调制器(24),所述时域调制器(24)电连接所述时域跟随器(23)、并电连接所述光源发生器(21)和所述光探测器(22)中的一者,所述时域跟随器(23)电连接所述光源发生器(21)和所述光探测器(22)中的另一者;
处理器(25),所述处理器(25)电连接所述光探测器(22)、所述光散射测量装置(10)以及所述时域跟随器(23)。
2.根据权利要求1所述的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)还包括:
第一门控机构(26),所述第一门控机构(26)电连接在所述光源发生器(21)与所述光散射测量装置(10)之间;
第二门控机构(27),所述第二门控机构(27)电连接在所述光探测器(22)与所述光散射测量装置(10)之间。
3.根据权利要求2所述的光散射测量电路,其特征在于,所述第一门控机构(26)和所述第二门控机构(27)分别与所述时域跟随器(23)和所述时域调制器(24)对应电连接。
4.根据权利要求2所述的光散射测量电路,其特征在于,所述第一门控机构(26)和所述第二门控机构(27)均通过光纤与所述光散射测量装置(10)连接。
5.根据权利要求1所述的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)还包括谱仪(28),所述谱仪(28)电连接在所述处理器(25)和所述光散射测量装置(10)之间。
6.根据权利要求5所述的光散射测量电路,其特征在于,所述谱仪(28)通过光纤与所述光散射测量装置(10)连接。
7.根据权利要求5所述的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)还包括波形生成器(29),所述波形生成器(29)电连接在所述谱仪(28)和所述光散射测量装置(10)之间。
8.根据权利要求1所述的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)还包括主控器(30),所述主控器(30)电连接所述处理器(25)。
9.根据权利要求1所述的光散射测量电路,其特征在于,所述处理器(25)为可编程门阵列。
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