[实用新型]一种基于磁共振成像的光散射测量电路有效

专利信息
申请号: 201820523165.0 申请日: 2018-04-13
公开(公告)号: CN208172226U 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: 刘子龙;蒋依芹;甘海勇;张巧香 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01R33/48 分类号: G01R33/48;G01N21/47
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 闫焕娟;宋志强
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 电连接 光散射测量装置 时域 光探测器 跟随器 光散射 光源发生器 测量电路 磁共振成像 调制器 散射 处理器 测量 本实用新型 强度信号 分布图 连续光 配合
【权利要求书】:

1.一种基于磁共振成像的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)用于连接产生磁共振光散射分布图的光散射测量装置(10),所述光散射测量电路(20)包括:

光源发生器(21),所述光源发生器(21)电连接所述光散射测量装置(10);

光探测器(22),所述光探测器(22)电连接所述光散射测量装置(10);

时域跟随器(23),所述时域跟随器(23)电连接所述光散射测量装置(10);

时域调制器(24),所述时域调制器(24)电连接所述时域跟随器(23)、并电连接所述光源发生器(21)和所述光探测器(22)中的一者,所述时域跟随器(23)电连接所述光源发生器(21)和所述光探测器(22)中的另一者;

处理器(25),所述处理器(25)电连接所述光探测器(22)、所述光散射测量装置(10)以及所述时域跟随器(23)。

2.根据权利要求1所述的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)还包括:

第一门控机构(26),所述第一门控机构(26)电连接在所述光源发生器(21)与所述光散射测量装置(10)之间;

第二门控机构(27),所述第二门控机构(27)电连接在所述光探测器(22)与所述光散射测量装置(10)之间。

3.根据权利要求2所述的光散射测量电路,其特征在于,所述第一门控机构(26)和所述第二门控机构(27)分别与所述时域跟随器(23)和所述时域调制器(24)对应电连接。

4.根据权利要求2所述的光散射测量电路,其特征在于,所述第一门控机构(26)和所述第二门控机构(27)均通过光纤与所述光散射测量装置(10)连接。

5.根据权利要求1所述的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)还包括谱仪(28),所述谱仪(28)电连接在所述处理器(25)和所述光散射测量装置(10)之间。

6.根据权利要求5所述的光散射测量电路,其特征在于,所述谱仪(28)通过光纤与所述光散射测量装置(10)连接。

7.根据权利要求5所述的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)还包括波形生成器(29),所述波形生成器(29)电连接在所述谱仪(28)和所述光散射测量装置(10)之间。

8.根据权利要求1所述的光散射测量电路,其特征在于,所述光散射测量电路(20)还包括主控器(30),所述主控器(30)电连接所述处理器(25)。

9.根据权利要求1所述的光散射测量电路,其特征在于,所述处理器(25)为可编程门阵列。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201820523165.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top