[实用新型]一种半导体开关管测试装置有效
| 申请号： | 201820464187.4 | 申请日： | 2018-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN208239570U | 公开（公告）日： | 2018-12-14 |
| 发明（设计）人： | 曾祥幼;张杰;胡舜涛 | 申请（专利权）人： | 上海陆芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人： | 张晓丹;吴崇 |
| 地址： | 200120 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体开关管测试装置。本实用新型的半导体开关管测试装置，包括：测试箱，测试箱具有容纳腔，容纳腔的侧壁上设有进风口和出风口，出风口上设有导流风扇；测试板，测试板设置于容纳腔内，测试板包括用于对待测试元件进行双脉冲测试的测试电路，测试电路包括：检测模块、驱动模块和控制模块；其中，驱动模块和检测模块依次由进风口向出风口方向布置。本实用新型的半导体开关管测试装置，由于具有散热结构，能够对其内部的元件进行散热，提高使用寿命和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体开关管 测试装置 本实用新型 测试板 出风口 容纳腔 测试电路 检测模块 驱动模块 测试箱 进风口 测试元件 导流风扇 控制模块 散热结构 使用寿命 双脉冲 散热 侧壁 测试 | ||
【主权项】：
1.一种半导体开关管测试装置，其特征在于，包括：测试箱，所述测试箱具有容纳腔，所述容纳腔的侧壁上设有进风口和出风口，所述出风口上设有导流风扇；测试板，所述测试板设置于所述容纳腔内，所述测试板包括用于对待测试元件进行双脉冲测试的测试电路，所述测试电路包括：检测模块，所述检测模块包括元件测试电路和脉冲测试电路，所述元件测试电路和所述脉冲测试电路分别与所述待测试元件连接，所述元件测试电路用于对所述待测试元件进行失效测试，所述脉冲测试电路用于对所述待测试元件进行双脉冲测试；驱动模块，所述驱动模块与所述待测试元件连接，为所述待测试元件提供脉冲测试信号；和控制模块，所述控制模块的信号输出端分别与所述元件测试电路、所述脉冲测试电路和所述驱动模块通信连接；所述控制模块的信号输入端与所述待测试元件连接，以获取所述待测试元件的测试结果；其中，所述驱动模块和检测模块依次由进风口向出风口方向布置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海陆芯电子科技有限公司，未经上海陆芯电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201820464187.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种双脉冲测试平台
- 下一篇：一种三相智能表用瞬变二极管工频电流冲击检测装置
