[实用新型]一种芯片测试及老化测试装置有效
| 申请号： | 201820211238.2 | 申请日： | 2018-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN207937530U | 公开（公告）日： | 2018-10-02 |
| 发明（设计）人： | 王永安 | 申请（专利权）人： | 上海季丰电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 朱九皋 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试及老化测试装置，包括测试盒、盒盖、插接块和转动轴，所述测试盒正面开设有凹形孔，所述测试盒内插接有移动块，所述移动块通过弹簧与插接块连接，所述插接块上安装有移动柱，所述移动块一端固定有数据接口，所述测试盒上表面前端安装有磁铁，所述测试盒上表面安装有芯片盒，所述芯片盒内开设有引脚孔，所述测试盒上表面后端开设有凹槽，所述转动轴的两端安装在凹槽的两侧，所述盒盖固定在转动轴上，所述盒盖内部顶端安装有固定块，所述盒盖内部前端安装有隔板，所述隔板底端安装有铁块。本实用新型具有测试插座与电路板安装在同一个测试盒内，减小体积，隐藏式的数据接口，方便携带，数据接口可与电脑对接的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 测试盒 数据接口 插接块 上表面 移动块 转动轴 老化测试装置 隔板 本实用新型 盒盖内部 芯片测试 芯片盒 盒盖 电路板安装 测试插座 顶端安装 凹形孔 固定块 移动柱 引脚孔 隐藏式 磁铁 弹簧 底端 减小 内插 内开 铁块 携带 电脑 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试及老化测试装置，包括测试盒（1）、盒盖（2）、插接块（12）和转动轴（17），其特征在于：所述测试盒（1）正面开设有凹形孔（3），所述测试盒（1）内插接有移动块（9），所述移动块（9）内壁通过弹簧（8）与插接块（12）弹性连接，所述插接块（12）插接在测试盒（1）内开设的插接孔（11）内，所述插接块（12）上安装有贯穿移动块（9）正面的移动柱（4），所述移动柱（4）一端安装在凹形孔（3）内，所述移动块（9）一端固定有数据接口（10），所述测试盒（1）上表面前端安装有磁铁（15），所述测试盒（1）上表面安装有芯片盒（7），所述芯片盒（7）内开设有引脚孔（18），所述测试盒（1）上表面后端开设有凹槽（16），所述转动轴（17）的两端转动安装在凹槽（16）的两侧，所述盒盖（2）下表面后端固定在转动轴（17）上，所述盒盖（2）内部顶端安装有固定块（5），所述固定块（5）底端安装有橡胶垫（6），所述盒盖（2）内部前端安装有隔板（13），所述隔板（13）底端安装有铁块（14）。
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