[实用新型]一种芯片测试及老化测试装置有效
| 申请号： | 201820211238.2 | 申请日： | 2018-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN207937530U | 公开（公告）日： | 2018-10-02 |
| 发明（设计）人： | 王永安 | 申请（专利权）人： | 上海季丰电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 朱九皋 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试盒 数据接口 插接块 上表面 移动块 转动轴 老化测试装置 隔板 本实用新型 盒盖内部 芯片测试 芯片盒 盒盖 电路板安装 测试插座 顶端安装 凹形孔 固定块 移动柱 引脚孔 隐藏式 磁铁 弹簧 底端 减小 内插 内开 铁块 携带 电脑 | ||
1.一种芯片测试及老化测试装置，包括测试盒（1）、盒盖（2）、插接块（12）和转动轴（17），其特征在于：所述测试盒（1）正面开设有凹形孔（3），所述测试盒（1）内插接有移动块（9），所述移动块（9）内壁通过弹簧（8）与插接块（12）弹性连接，所述插接块（12）插接在测试盒（1）内开设的插接孔（11）内，所述插接块（12）上安装有贯穿移动块（9）正面的移动柱（4），所述移动柱（4）一端安装在凹形孔（3）内，所述移动块（9）一端固定有数据接口（10），所述测试盒（1）上表面前端安装有磁铁（15），所述测试盒（1）上表面安装有芯片盒（7），所述芯片盒（7）内开设有引脚孔（18），所述测试盒（1）上表面后端开设有凹槽（16），所述转动轴（17）的两端转动安装在凹槽（16）的两侧，所述盒盖（2）下表面后端固定在转动轴（17）上，所述盒盖（2）内部顶端安装有固定块（5），所述固定块（5）底端安装有橡胶垫（6），所述盒盖（2）内部前端安装有隔板（13），所述隔板（13）底端安装有铁块（14）。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试及老化测试装置，其特征在于：所述插接孔（11）数量为两个，两个插接孔（11）之间的距离与数据接口（10）的长度相一致。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试及老化测试装置，其特征在于：所述插接块（12）与插接孔（11）相适配。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试及老化测试装置，其特征在于：所述弹簧（8）始终处于压缩状态。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试及老化测试装置，其特征在于：所述固定块（5）与芯片盒（7）的位置上下对应。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试及老化测试装置，其特征在于：所述磁铁（15）数量为两个，两个磁铁（15）以测试盒（1）中轴线对称分布，铁块（14）与磁铁（15）的位置上下对应。
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