[实用新型]一种中子探测器性能测试系统有效
| 申请号： | 201820178841.5 | 申请日： | 2018-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN208026877U | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 郭辉;张晨旭;张玉明;王雨田;黄海栗 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 刘长春 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种中子探测器性能测试系统，所述测试系统包括：探测器暗室、中子辐射源、前置放大器、滤波器、锁相放大器、示波器、工控机、稳压电源以及信号发生器；其中，探测器暗室内设置有中子辐射源，中子辐射源对准待测中子探测器，待测中子探测器、前置放大器、滤波器、锁相放大器、示波器以及工控机依次电连接；稳压电源与待测中子探测器102电连接；信号发生器与前置放大器电连接。本实用新型实施例，提供了一套完整的性能测试系统，能够对中子探测器进行多方面参数的检测，有效节省了时间。 | ||
| 搜索关键词： | 中子探测器 性能测试系统 前置放大器 中子辐射源 电连接 滤波器 本实用新型 锁相放大器 信号发生器 稳压电源 工控机 示波器 探测器 暗室 测试系统 对准 检测 | ||
【主权项】：
1.一种中子探测器性能测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：探测器暗室(10)、中子辐射源(101)、前置放大器(20)、滤波器(30)、锁相放大器(40)、示波器(50)、工控机(60)、稳压电源(70)以及信号发生器(80)；其中，所述探测器暗室(10)内设置有所述中子辐射源(101)，所述中子辐射源(101)对准待测中子探测器(102)，所述待测中子探测器(102)、所述前置放大器(20)、所述滤波器(30)、所述锁相放大器(40)、所述示波器(50)以及所述工控机(60)依次电连接；所述稳压电源(70)与所述待测中子探测器(102)电连接；所述信号发生器(80)与所述前置放大器(20)电连接。
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