[发明专利]一种探测成像装置及方法在审
申请号: | 201811653445.4 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109580671A | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 张向阳 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/046 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周天宇 |
地址: | 102413 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种探测成像装置,装置包括:射线源,用于发射射线,射线组成扇形射线区域,待测物体设于扇形射线区域内,以使射线穿过待测物体后被衰减生成衰减信号;探测系统,探测系统包括探测装置和处理装置,其中,探测装置,用于接收衰减信号,所述处理装置,用于对衰减信号进行处理得到待测物体的断层图像。由于射线的穿透能力强,且射线区域广等优势,有利于探测大直径的待测物体,同时通过大型探测器阵列和射线配合使用,以接收穿过待测物体的射线,通过对射线的衰减程度进行分析,重构成像,得到待测物体断层的图像,通过移动射线和探测器阵列完成对整个待测物体的扫描,简单方便。另一方面,本发明提供了一种探测成像方法。 | ||
搜索关键词: | 待测物体 射线 衰减信号 探测成像装置 探测器阵列 处理装置 扇形射线 探测系统 探测装置 衰减 穿过 穿透能力 断层图像 射线区域 探测成像 移动射线 射线源 重构 成像 断层 扫描 探测 图像 发射 分析 | ||
【主权项】:
1.一种探测成像装置,其特征在于,所述装置包括:射线源,用于发射射线,所述射线组成扇形射线区域,待测物体设于所述扇形射线区域内,以使所述射线穿过所述待测物体后被衰减生成衰减信号;探测系统,所述探测系统包括探测装置和处理装置,其中,所述探测装置,用于接收所述衰减信号,所述处理装置,用于对所述衰减信号进行处理得到所述待测物体的断层图像。
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