[发明专利]一种使用电子器件计数装置自动筛选计数的方法有效
| 申请号： | 201811617831.8 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109712132B | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 王威;王鹤 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 吴乃壮 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种使用电子器件计数装置自动筛选计数的方法，包括以下步骤：通过振动台使待测电子器件完全散开无堆叠；调整照明系统亮度进行原图像采集、反色处理、阙值分割，再进行图像的腐蚀操作，采用亚像素级别的结构单元将相邻的电子器件区分开，得到由多个连通域组成的腐蚀图像；计算连通域的个数；利用辅助观测相机筛选与统计待筛选电子器件中干扰物个数；将连通域个数与干扰物个数进行合并，得到待测电子器件的个数。本发明的计数方法基于图像处理的计数功能，快速准确，自动化程度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使用 电子器件 计数 装置 自动 筛选 方法 | ||
【主权项】：
1.一种使用电子器件计数装置自动筛选计数的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1:通过计数装置的驱动控制模块调节振动台的振幅和频率，使待测电子器件完全散开无堆叠；S2:调整照明系统亮度；S3:原图像采集：利用主观测相机获取S1步骤中待测电子器件的原图像；S4:原图像反色处理：通过计数装置的图像处理模块将S3步骤中所述原图像进行反色处理，得到反色图像；S5:图像阈值分割，将S4步骤中的反色图像进行阙值分割，得到由多个连通域组成的阙值分割图像；S6:图像的腐蚀操作：设定亚像素级别的结构单元将S5步骤中的相邻的电子器件区分开，得到由多个连通域组成的腐蚀图像；S7:计算S6步骤中的连通域的个数；S8:利用辅助观测相机筛选与统计待筛选电子器件中干扰物个数；S9:将S7步骤中得到的连通域个数与S8中得到的干扰物个数进行合并，得到待测电子器件的个数。
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