[发明专利]一种提高测试效率的ATE测试方法有效

专利信息
申请号: 201811607629.7 申请日: 2018-12-27
公开(公告)号: CN109884498B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 薛来熙;吴勇佳;余琨;季海英;蔡漪文;王静 申请(专利权)人: 上海华岭集成电路技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海海贝律师事务所 31301 代理人: 范海燕
地址: 201203 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种提高测试效率的ATE测试模式,本技术方案由2部分构成:数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器;将ATE测试电脑及数据处理电脑,通过网线接到数据传输路由器上,构成局域网,并将数据处理电脑的某个硬盘,通过局域网共享给ATE测试电脑使用,该硬盘为备份硬盘;本发明提供的提高测试效率的ATE测试模式,该模式是将采集数据、数据分析和处理及返回测试Bin进行分开,ATE将所需数据采集完,就可空出ATE,用于其他的集成电路测试,这样可以提高ATE的测试效益;数据采集完,存档在另一台电脑中,也可避免因大数据处理中,ATE电脑死机时,造成数据丢失。
搜索关键词: 一种 提高 测试 效率 ate 方法
【主权项】:
1.一种提高测试效率的ATE测试模式,其特征在于:本技术方案由2部分构成:数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器;将ATE测试电脑及数据处理电脑,通过网线接到数据传输路由器上,构成局域网,并将数据处理电脑的某个硬盘,通过局域网共享给ATE测试电脑使用,该硬盘为备份硬盘;集成电路测试中,用ATE匹配的开发测试程序的软件,将测试抓取的数据,以一定的命名规则,通过共享,放到数据处理电脑的备份硬盘上,数据存储完成后,返回一个虚拟的测试Bin给ATE,ATE收到Bin后进行下一个测试任务,并将该测试电路,以相同的命名规则存放,依次完成该批次集成电路所有测试任务;完成测试任务后,该批次测试电路均以虚拟测试Bin存放,同时数据处理电脑上也已按对应关系,即相同命名规则存储了所有测试数据,而ATE就可以进行其他集成电路的测试安排;在数据处理电脑上,将备份硬盘里的数据,复制到一个新的硬盘里,新的硬盘为处理硬盘,对处理硬盘中的数据进行数据处理并得到真实的Bin,并备份于备份硬盘,通过对应关系,依次修改测试电路Bin,完成最终测试;或者数据处理同步于测试任务,即ATE抓到数据后,通过数据传输路由器存储后即可开始进行数据处理,数据处理和ATE抓取测试数据互不干扰,并且数据处理电脑有备份硬盘来备份数据,以免数据处理中,出现数据处理异常,使得处理硬盘里的数据被修改。
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