[发明专利]一种提高测试效率的ATE测试方法有效
申请号: | 201811607629.7 | 申请日: | 2018-12-27 |
公开(公告)号: | CN109884498B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 薛来熙;吴勇佳;余琨;季海英;蔡漪文;王静 | 申请(专利权)人: | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人: | 范海燕 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 测试 效率 ate 方法 | ||
本发明公开了一种提高测试效率的ATE测试模式,本技术方案由2部分构成:数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器;将ATE测试电脑及数据处理电脑,通过网线接到数据传输路由器上,构成局域网,并将数据处理电脑的某个硬盘,通过局域网共享给ATE测试电脑使用,该硬盘为备份硬盘;本发明提供的提高测试效率的ATE测试模式,该模式是将采集数据、数据分析和处理及返回测试Bin进行分开,ATE将所需数据采集完,就可空出ATE,用于其他的集成电路测试,这样可以提高ATE的测试效益;数据采集完,存档在另一台电脑中,也可避免因大数据处理中,ATE电脑死机时,造成数据丢失。
技术领域
本发明应用于集成电路测试中,尤其涉及一种提高测试效率的ATE测试方法。
背景技术
集成电路测试ATE测试,采集、分析、处理数据及返回结果后,进行下一个测试项测试。此类型技术进行小数据量处理时,可以快速直观的观察到测试Bin,出现异常时,数据虽然丢失,但是整个测试时间很短,进行重新测试即可。但是面对大数据量处理时,数据处理占用了大量的测试时间,出现异常时,进行重新测试就会增加大量的时间成本,测试工程师进行在线算法优化,也会占用ATE,还可能会出现采集的数据丢失,测试工程师就无法进行数据分析和算法优化。
发明内容
本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种提高测试效率的ATE测试方法,此项技术方案是针对需要大量数据处理的集成电路测试,解决了现有技术一中测试的数据处理额外占用ATE等测试设备及因数据处理异常引起的额外时间成本,提高了该类型测试的ATE效益,也为该类型测试的数据提供了备份保护,将测试工程师对数据处理的算法优化时间,独立于ATE,其中,具体技术方案是:
本技术方案由2部分构成:数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器。
数据处理用的电脑,针对不同需求,可以是普通的个人电脑,也可以是专用的高性能数据处理服务器,本技术方案,旨在说明一种ATE测试的模式,以下泛称数据处理电脑。
数据传输使用的网络路由器,同理,泛称数据传输路由器。
将ATE测试电脑及数据处理电脑,通过网线接到数据传输路由器上,构成局域网,并将数据处理电脑的某个硬盘,通过局域网共享给ATE测试电脑使用,该硬盘以下简称备份硬盘。
集成电路测试中,用ATE匹配的开发测试程序的软件,将测试抓取的数据,以一定的命名规则,通过共享,放到数据处理电脑的备份硬盘上,数据存储完成后,返回一个虚拟的测试Bin给ATE,ATE收到Bin后进行下一个测试任务,并将该测试电路,以相同的命名规则存放,依次完成该批次集成电路所有测试任务。完成测试任务后,该批次测试电路均以虚拟测试Bin存放,同时数据处理电脑上也已按对应关系(相同命名规则)存储了所有测试数据,而ATE就可以进行其他集成电路的测试安排。
对于上述的用ATE匹配的开发测试程序的软件,测试的时候,需要1个软件来控制ATE,ATE厂商不同,控制ATE的软件也不同,这个软件是ATE厂商开发的,用于控制他们家的ATE。比如泰瑞达的J750系列ATE,需要通过IGXL的软件,才能对ATE进行编程,才能实现控制ATE进行测试(比如电源上电)。而爱德万的V93K系列,则使用的是smarttest的软件。因为不同厂商的ATE用的软件不一样,概括为用ATE厂商自带的匹配的软件来开发测试程序,这里的测试程序就是指用ATE的软件写出来的,用于某个集成电路测试,不同电路,测试程序也是不一样的,测试程序类似于window下的.exe这样的软件,某个电路专有。
对于上述的将测试抓取的数据后以一定的命名规则以一定的命名规则,通过共享,放到数据处理电脑的备份硬盘上;在实施例中有描述命名规则举例,因为每个工程师喜好不一样,这个规则不是固定的。因为大数据,一般不是人来处理数据的,都是电脑上开个脚本,或者写个数据处理软件。这个时候,用一定的命名规则,就方便电脑处理数据。
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