[发明专利]一种等温温度系数测量的优化方法在审

专利信息
申请号: 201811602298.8 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109741840A 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: 蔡光明;郑东佳;程宏亚;孟凡锋;严亮;赵高峰;李振振;肖冰山;刘学春;耿飞;张鹏 申请(专利权)人: 福建福清核电有限公司
主分类号: G21C17/00 分类号: G21C17/00;G21C17/02;G21C17/112
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 任超
地址: 350318*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种等温温度系数测量的优化方法,包括以下步骤:步骤一:状态调整;升高或降低一回路冷却剂的平均温度,稳定在(Tref+ΔT/2)℃或(Tref‑ΔT/2)℃;步骤二:围绕参考温度改变温度进行等温温度系数测量;如状态调整后的温度为(Tref+ΔT/2)℃,则降低一回路冷却剂平均温度至(Tref‑ΔT/2)℃,进行等温温度系数测量;如状态调整后的温度为(Tref‑ΔT/2)℃,则升高一回路冷却剂平均温度至(Tref+ΔT/2)℃,进行等温温度系数测量;步骤三:重复步骤二,再进行n次等温温度系数测量;步骤四:数据处理。本发明的等温温度系数的测量过程中,温度围绕参考温度变化,平均温度偏离参考温度小,温度修正小甚至可以消除。
搜索关键词: 温度系数测量 冷却剂 状态调整 参考 升高 测量过程 温度偏离 温度系数 温度修正 数据处理 优化 重复
【主权项】:
1.一种等温温度系数测量的优化方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:状态调整;升高或降低一回路冷却剂的平均温度,稳定在(Tref+ΔT/2)℃或(Tref‑ΔT/2)℃;步骤二:围绕参考温度改变温度进行等温温度系数测量;如状态调整后的温度为(Tref+ΔT/2)℃,则降低一回路冷却剂平均温度至(Tref‑ΔT/2)℃,进行等温温度系数测量;如状态调整后的温度为(Tref‑ΔT/2)℃,则升高一回路冷却剂平均温度至(Tref+ΔT/2)℃,进行等温温度系数测量;步骤三:重复步骤二,再进行n次等温温度系数测量;步骤四:数据处理;选取每一段温度变化中线性度良好的曲线段,处理得到测量状态的等温温度系数;计算线性段的平均温度,求出温度偏差,对温度及其它物理量进行修正,得到每一段修正后的等温温度系数;最后,对n+1段修正后的等温温度系数求平均,得到等温温度系数的测量结果。
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