[发明专利]一种等温温度系数测量的优化方法在审

专利信息
申请号: 201811602298.8 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109741840A 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: 蔡光明;郑东佳;程宏亚;孟凡锋;严亮;赵高峰;李振振;肖冰山;刘学春;耿飞;张鹏 申请(专利权)人: 福建福清核电有限公司
主分类号: G21C17/00 分类号: G21C17/00;G21C17/02;G21C17/112
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 任超
地址: 350318*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 温度系数测量 冷却剂 状态调整 参考 升高 测量过程 温度偏离 温度系数 温度修正 数据处理 优化 重复
【权利要求书】:

1.一种等温温度系数测量的优化方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一:状态调整;

升高或降低一回路冷却剂的平均温度,稳定在(Tref+ΔT/2)℃或(Tref-ΔT/2)℃;

步骤二:围绕参考温度改变温度进行等温温度系数测量;

如状态调整后的温度为(Tref+ΔT/2)℃,则降低一回路冷却剂平均温度至(Tref-ΔT/2)℃,进行等温温度系数测量;如状态调整后的温度为(Tref-ΔT/2)℃,则升高一回路冷却剂平均温度至(Tref+ΔT/2)℃,进行等温温度系数测量;

步骤三:重复步骤二,再进行n次等温温度系数测量;

步骤四:数据处理;

选取每一段温度变化中线性度良好的曲线段,处理得到测量状态的等温温度系数;计算线性段的平均温度,求出温度偏差,对温度及其它物理量进行修正,得到每一段修正后的等温温度系数;最后,对n+1段修正后的等温温度系数求平均,得到等温温度系数的测量结果。

2.如权利要求1所述的一种等温温度系数测量的优化方法,其特征在于:步骤二和步骤三中的温度围绕Tref变化,以减少或消除温度偏差|Tavg-Tref|,进而减少或消除温度偏差带来的修正误差。

3.如权利要求1所述的一种等温温度系数测量的优化方法,其特征在于:步骤三中,所述的n通常为3,即总共4段温度变化;选取多段温度变化的目的是减小测量误差。

4.如权利要求1所述的一种等温温度系数测量的优化方法,其特征在于:根据等温温度系数数据处理原则,温度变化的线性段建议达到1℃,通常将温度变化的幅度ΔT取为2℃。

5.如权利要求1所述的一种等温温度系数测量的优化方法,其特征在于:Tref±ΔT一般应在零功率物理试验的温度范围内;特殊情况,如其它温度下的等温温度系数测量,则应在机组许可的温度范围内。

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