[发明专利]去除多孔硅微阵列图像中散斑噪声的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811600257.5 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109712130B 公开(公告)日: 2023-02-21
发明(设计)人: 贾振红;任如勇 申请(专利权)人: 新疆大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 代理人: 王伟锋;张小勇
地址: 830046 新疆维*** 国省代码: 新疆;65
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种去除多孔硅微阵列图像中散斑噪声的方法及装置,涉及生物芯片领域,能够解决的现有技术中散斑噪声对微阵列图像检测的影响的问题。本发明的方法包括:获取多孔硅微阵列图像中的奇异像素点,对所述奇异像素点进行标记;根据所述奇异像素点,确定并标记奇异像素点的区域;按照标记奇异像素点的区域,将多孔硅微阵列图像中奇异像素点区域以外的区域平均划分为9个区域,计算每个区域中灰度值的第一平均值;对全部的第一平均值进行排序,获取第一中间值;将第一中间值代替奇异像素点的灰度值,对奇异像素点进行一次散斑噪声吞噬。本发明可广泛应用于处理图像散斑噪声的场景中。
搜索关键词: 去除 多孔 阵列 图像 中散斑 噪声 方法 装置
【主权项】:
1.一种去除多孔硅微阵列图像中散斑噪声的方法,其特征在于,所述方法包括:获取并标记多孔硅微阵列图像中的奇异像素点,所述奇异像素点为所述多孔硅微阵列图像中灰度值大于预设值的像素点;根据所述奇异像素点,确定并标记奇异像素点的区域;按照标记奇异像素点的区域,将多孔硅微阵列图像中奇异像素点区域以外的区域平均划分为9个区域,计算每个区域中灰度值的第一平均值;对全部的第一平均值进行排序,获取第一中间值;将所述第一中间值代替所述奇异像素点的灰度值,对所述奇异像素点进行一次散斑噪声吞噬。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新疆大学,未经新疆大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811600257.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top