[发明专利]一种干式空心电抗器匝间绝缘缺陷位置的查找方法

摘要

本发明公开了一种干式空心电抗器匝间绝缘缺陷位置的查找方法，在遵循现有的电气试验标准的基础之上，并不拘泥单一的试验形式，也不仅仅依赖单台干抗设备的整体试验结果，而是依据上一步的试验结果，指导下一步应该选用的试验项目，按照干抗整体是否存在匝间绝缘缺陷、缺陷在哪一个包封、缺陷具体位置(冒烟位置)的查找逻辑，逐步逐层次有条理地确定了匝间绝缘缺陷的位置。同时，该方法不单单适用于干抗单一缺陷位置的查找，其试验流程同样满足多处缺陷位置的查找。

主权项

1.一种干式空心电抗器匝间绝缘缺陷位置的查找方法，其特征在于，所述查找方法包括以下步骤：步骤1：进行现场匝间过电压试验，确定干式空心电抗器是否存在匝间绝缘缺陷，如果高、低压试验波形的相位发生明显偏移，表明被测干式空心电抗器存在匝间绝缘缺陷，执行步骤2，如果高、低压试验波形的相位未发生偏移，干式空心电抗器无缺陷结束执行所述查找方法；步骤2：在额定电流下测量干式空心电抗器的介损值，将当前温度下测量的介损值折合至参考温度75℃，与出厂损耗测试值进行对比计算偏差值；步骤3：包封层直流电阻测试值测试，并与设计理论值进行对比，计算二者的偏差值，如果包封层直流电阻测试值偏差大于±5％执行步骤8，否则执行步骤4；步骤4：利用包封损耗测试确定问题包封，在额定电流下测量包封损耗值将当前温度下测量的包封损耗值折合至参考温度75℃，与出厂损耗测试值进行对比计算偏差值，如果包封介损值偏差大于±5％执行步骤8，否则执行步骤5；步骤5：利用外施电流加速匝间绝缘劣化；步骤6：降低外施电压值为零，测量干式空心电抗器的电感值，与出厂测试值进行对比，如果所测量电感值与出厂测试值偏差大于10％执行步骤7，否则执行步骤5；步骤7：再次在额定电流下测量干式空心电抗器介损值和包封损耗值，并将干式空心电抗器介损值和包封损耗值折合至参考温度75℃，与步骤2中的干式空心电抗器介损值和步骤4中的包封损耗值进行对比，如果没有缺陷执行步骤8，否则判定缺陷存在的包封位置，拆除已确定存在缺陷的问题包封并执行步骤5；步骤8：进行温升试验，升高外施电压值，直至干式空心电抗器的外施电流值无法升高为止，在温升试验过程中，依据红外热成像温度分布图及其灼烧冒烟位置，判定缺陷具体位置；步骤9：拆解问题包封，确定匝间绝缘缺陷，以便后续分析其缺陷成因。