[发明专利]一种干式空心电抗器匝间绝缘缺陷位置的查找方法

说明书

本发明公开了一种干式空心电抗器匝间绝缘缺陷位置的查找方法，在遵循现有的电气试验标准的基础之上，并不拘泥单一的试验形式，也不仅仅依赖单台干抗设备的整体试验结果，而是依据上一步的试验结果，指导下一步应该选用的试验项目，按照干抗整体是否存在匝间绝缘缺陷、缺陷在哪一个包封、缺陷具体位置(冒烟位置)的查找逻辑，逐步逐层次有条理地确定了匝间绝缘缺陷的位置。同时，该方法不单单适用于干抗单一缺陷位置的查找，其试验流程同样满足多处缺陷位置的查找。

技术领域

本发明涉及高电压与绝缘技术领域，特别是涉及干式空心电抗器匝间绝缘缺陷位置的查找方法。

背景技术

干式空心电抗器一般由几个到十几个包封并联构成，每一个包封又由多股电磁线并行绕制而成，即一台干式空心电抗器设备的电气拓扑为一个成千上万匝的电抗线圈。当干式空心电抗器的某几匝或者几十匝线圈出现或者存在绝缘缺陷时，现场目前开展的常规电气试验难以判定其是否存在匝间绝缘缺陷，因此随着设备绝缘缺陷的发展和扩大，常导致干式空心电抗器设备着火事故的发生。干式空心电抗器发生匝间短路后，其短路环内的电流很大，极端情况下可达到正常运行电流的数倍，因此极易在数秒内引起线圈起火、自焚。由于匝间绝缘缺陷导致的事故原因占干式空心电抗器总事故原因的90％，若不能及时发现匝间绝缘缺陷，干式空心电抗器失火事故对变电站造成的恶劣影响和经济损失则无法估量。

基于高频脉冲振荡法的匝间过电压试验装置，使用电力电子器件IGBT代替了传统的球隙放电间隙，装置的安全性和可靠性大幅度提升。因此，将匝间过电压试验由实验室引入到了电力现场，在现场干式空心电抗器匝间绝缘缺陷诊断方面起到了不容小觑的作用，解决了在运干式空心电抗器匝间绝缘缺陷现场诊断的技术难题，大大降低了干式空心电抗器失火等事件的发生。

但是，仅仅借助高频脉冲振荡法的匝间过电压试验装置判定被测干式空心电抗器是否存在匝间绝缘缺陷是远远不够的，只有在明晰匝间绝缘缺陷缺陷的具体位置后，借助干式空心电抗器本体拆解的方式，才能从根本上确定导致干式空心电抗器出现匝间绝缘缺陷的根本原因，进而才能从干式空心电抗器设备的设计、制造和运维等方面提出提高设备生产质量和运行稳定的有效方法。

因此需要提供一种干式空心电抗器匝间绝缘缺陷位置的查找方法以解决现有技术中存在的问题。

发明内容

本发明公开了一种干式空心电抗器匝间绝缘缺陷位置的查找方法，其特征在于，所述查找方法包括以下步骤：

步骤1：进行现场匝间过电压试验，确定干式空心电抗器是否存在匝间绝缘缺陷，如果高、低压试验波形的相位发生明显偏移(GB/T 1094.6图G.1中给出的判断判据)，表明被测干式空心电抗器存在匝间绝缘缺陷，执行步骤2，如果高、低压试验波形的相位未发生偏移，干式空心电抗器无缺陷结束执行所述查找方法；

步骤2：在额定电流下测量干式空心电抗器的介损值，将当前温度下测量的介损值折合至参考温度75℃(GB/T 1094.6-2011电力变压器第6部分：电抗器第7.8.1条：测量值应修正到额定电流和参考温度下)，与出厂损耗测试值进行对比计算偏差值；

步骤3：包封层直流电阻测试值测试，并与设计理论值进行对比，计算二者的偏差值，如果包封层直流电阻测试值偏差大于±5％执行步骤8，否则执行步骤4；

步骤4：利用包封损耗测试确定问题包封，在额定电流下测量包封损耗值将当前温度下测量的包封损耗值折合至参考温度75℃(同步骤2所述)，与出厂损耗测试值进行对比计算偏差值，如果包封介损值偏差大于±5％执行步骤8，否则执行步骤5；

步骤5：利用外施电流加速匝间绝缘劣化；

步骤6：降低外施电压值为零，测量干式空心电抗器的电感值，与出厂测试值进行对比，如果所测量电感值与出厂测试值偏差大于10％执行步骤7，否则执行步骤5；