[发明专利]存储器的测试方法、装置及可读存储器有效
| 申请号： | 201811546780.4 | 申请日： | 2018-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN111341374B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 孙大鹏 | 申请（专利权）人： | 炬芯科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/54 |
| 代理公司： | 深圳君信诚知识产权代理事务所(普通合伙) 44636 | 代理人： | 刘伟 |
| 地址： | 519085 广东省珠海市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及了一种存储器的测试方法、装置及可读存储器，该测试方法包括：对存储器进行读写操作，通过预设的映射算法根据写数据得到目标写映射值；通过所述预设的映射算法根据读数据得到目标读映射值，通过比较所述目标读映射值和所述目标写映射值判断所述存储器是否存在故障。实施本发明的技术方案，可节省存储空间，且应用范围更广。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 可读 | ||
【主权项】：
暂无信息
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