[发明专利]激光作用下液晶光栅器件衍射效率的测量装置及方法有效
| 申请号： | 201811523904.7 | 申请日： | 2018-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN109407365B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 赵元安;彭丽萍;刘晓凤;李大伟;邵建达;邵宇辰;吴金明;马浩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种激光作用下液晶光栅器件衍射效率的测量装置及方法，包括泵浦激光源、连续探测激光源、分束镜、光束质量分析仪、吸收池及计算机。泵浦激光源辐照液晶光栅器件时，连续探测激光源也同时辐照在器件上，由光束质量分析仪分别记录透过液晶光栅器件前后的连续探测激光功率密度的空间分布，并对得到的功率密度在空间分布上进行积分。定义激光功率密度在空间分布上的积分值为激光总功率，透过液晶光栅器件前后的探测激光束总功率之比为衍射效率。本发明可准确测量激光作用下液晶光栅器件的衍射效率变化，为液晶光栅器件在连续激光系统下的应用提供依据。该方法最重要的是要对由光束质量分析仪获得的激光功率密度分布图进行像素强度提取，利用像素强度表征激光功率密度的大小，激光总功率由对激光功率密度在空间分布上的积分获得。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 作用 液晶 光栅 器件 衍射 效率 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种激光作用下液晶光栅器件衍射效率的测量装置，包括：连续探测激光器(1)、分束镜(2)、可供样品放置的样品台(5)、泵浦激光器(7)、吸收池(8)和计算机(9)，其特征在于，还包括第一光束质量分析仪(3)和第二光束质量分析仪(6)，所述计算机(9)的输入端分别与所述第一光束质量分析仪(3)的输出端和第二光束质量分析仪(6)的输出端相连，待测液晶光栅器件(4)夹持在所述样品台(5)上；所述的连续探测激光器(1)输出的激光经所述分束镜(2)后分成反射光束和透射光束，所述的反射光束由所述第一光束质量分析仪(3)接收，所述的透射光束垂直辐照在所述待测液晶光栅器件(4)表面，经所述待测液晶光栅器件(4)透射后，由所述第二光束质量分析仪(6)接收；所述的泵浦激光器(7)输出的激光以5‑10°的入射角辐照在所述待测液晶光栅器件(4)上，经所述待测液晶光栅器件(4)透过后的激光束由所述吸收池(8)接收；所述连续探测激光器(1)输出的激光辐照在所述待测液晶光栅器件(4)表面的区域与所述泵浦激光器(7)输出的激光辐照在所述待测液晶光栅器件(4)表面的区域重合。
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