[发明专利]OLED基板及其图案偏移检测方法、装置有效

专利信息
申请号: 201811519123.0 申请日: 2018-12-12
公开(公告)号: CN109767994B 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 罗志猛;赵云 申请(专利权)人: 信利半导体有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L27/32
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 516600 *** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种OLED基板及其图案偏移检测方法、装置,所述基板设有显示区和检测区,显示区形成第一图案和第二图案,所述方法包括:获取与第一图案对应的第一检测图案和与第二图案对应的第二检测图案,第一检测图案与第二检测图案之间具有预设偏移量;在显示区形成第一图案和第二图案的同时,在检测区形成第一检测图案和第二检测图案;获取形成后的第一检测图案与第二检测图案之间的偏移量;根据偏移量和预设偏移量,获取第一图案与第二图案之间的偏移量。由此,通过在显示区外设置与第一图案和第二图案相对应的第一检测图案和第二检测图案,以将第一图案和第二图案显化,从而有利于实现对第一图案与第二图案的套嵌情况的检测。
搜索关键词: oled 及其 图案 偏移 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种OLED基板的图案偏移检测方法,其特征在于,所述基板设有显示区和检测区,所述显示区形成第一图案和第二图案,所述方法包括:获取与所述第一图案对应的第一检测图案和与所述第二图案对应的第二检测图案,所述第一检测图案与所述第二检测图案之间具有预设偏移量;在所述显示区形成所述第一图案和所述第二图案的同时,在所述检测区形成所述第一检测图案和所述第二检测图案;获取形成后的所述第一检测图案与所述第二检测图案之间的偏移量;根据形成后的所述第一检测图案与所述第二检测图案之间的偏移量和所述预设偏移量,获取所述第一图案与所述第二图案之间的偏移量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于信利半导体有限公司,未经信利半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811519123.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top