[发明专利]面向等离子体的金刚石膜第一壁制备方法在审

专利信息
申请号: 201811466051.8 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN111254409A 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 罗天勇;付志强;李卫 申请(专利权)人: 核工业西南物理研究院;中国地质大学(北京);廊坊西波尔钻石技术有限公司
主分类号: C23C16/02 分类号: C23C16/02;C23C16/27
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 孙成林
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种面向等离子体的金刚石膜第一壁及制备方法,将超声波清洗、热电子增强氢/氩等离子体蚀刻纯化处理和金刚石涂层热丝化学气相沉积结合起来,在石墨表面生长抗氢离子蚀刻的金刚石膜,本发明的有益效果在于:金刚石膜相比石墨和低活化马氏体钢,具有极高的导热率,高的抗氢离子蚀刻性能和低的氘氚吸附能力,同时还具有极强的防氚渗透能力,有望成为聚变实验装置的另一种面向等离子体材料选择。本发明在200mm见方的石墨表面生长了致密的金刚石膜,已在400eV、50mA的氢离子辐照10小时,在电镜下未观察到表面微观形貌变化,说明金刚石膜具有较高的抗氢离子蚀刻性能。
搜索关键词: 面向 等离子体 金刚石 第一 制备 方法
【主权项】:
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