[发明专利]一种晶圆测试中测试仪自动读取参数的方法有效

专利信息
申请号: 201811389896.1 申请日: 2018-11-21
公开(公告)号: CN109541426B 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 刘芹篁;范亚明;朱璞成;刘斌;陈诗伟;黄蓉;宋振磊 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所南昌研究院
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王茹;王锋
地址: 330000 江西省南昌市*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明揭示了一种晶圆测试中测试仪自动读取参数的方法,包括:探针台将探针卡识别号传输至伺服器,由伺服器传输给测试仪;测试仪识别探针卡识别号,并根据探针卡识别号在伺服器内选取对应的测试程序;测试仪读取并下载测试程序,将其载入测试软件,载入完成后发送完成信号给探针台;探针台接收到完成信号,发出警报告知测试操作人员。本发明既保证了晶圆测试程序的有效性,又减少过多返工对晶圆的损耗,增加良率。
搜索关键词: 一种 测试 测试仪 自动 读取 参数 方法
【主权项】:
1.一种晶圆测试中测试仪自动读取参数的方法,其特征在于,包括:S1,探针台将探针卡识别号传输至伺服器,由伺服器传输给测试仪;S2,所述测试仪识别所述探针卡识别号,并根据所述探针卡识别号在伺服器内选取对应的测试程序;S3,所述测试仪读取并下载所述测试程序,将其载入测试软件,载入完成后发送完成信号给探针台;S4,所述探针台接收到所述完成信号,发出警报告知测试操作人员。
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