[发明专利]一种基于电磁散射模型的大角度SAR超分辨成像方法有效
申请号: | 201811375129.5 | 申请日: | 2018-11-19 |
公开(公告)号: | CN109633638B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 盛佳恋;付朝伟;李银伟 | 申请(专利权)人: | 上海无线电设备研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90;G01S7/41 |
代理公司: | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人: | 张妍;刘琰 |
地址: | 200090 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种基于电磁散射模型的大角度SAR超分辨成像方法,对雷达回波进行子孔径划分,子孔径之间保留重叠区域用于转角估计;基于电磁散射模型对每个子孔径进行参数估计;利用估计得到的参数集,对当前子孔径的频率和角度范围进行外推,并进行重构得到高分辨率的子孔径图像;对所有校正旋转后的子孔径图像进行融合,获得高分辨率的融合图像。本发明提升了大视角条件下的SAR成像分辨率,保证了目标部件的整体连续性,提高了低信噪比条件下的算法鲁棒性。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 电磁 散射 模型 角度 sar 分辨 成像 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于电磁散射模型的大角度SAR超分辨成像方法,其特征在于,包含以下步骤:步骤S1、对雷达回波按照方位时间进行子孔径划分,子孔径之间保留重叠区域用于转角估计,在子孔径融合时构造旋转矩阵;步骤S2、基于电磁散射模型对每个子孔径进行参数估计;步骤S3、利用估计得到的参数集,对当前子孔径的频率和角度范围进行外推,并进行重构得到高分辨率的子孔径图像;步骤S4、对所有校正旋转后的子孔径图像进行融合,获得高分辨率的融合图像。
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