[发明专利]一种深截止窄带滤光片的高精度测试方法

摘要

本发明属于光学技术领域，具体涉及一种深截止窄带滤光片的高精度测试方法，该方法基于分光光度计对滤光片进行测试，将分光光度计的测试参数作为变量，将多元线性回归的方法引入到滤光片性能的评价。通过对多组数据的多元线性回归，确定影响滤光片性能的关键测试数，得到滤光片的测试误差。该方法对于光学系统设计和光学薄膜元件的设计具有普适性。

主权项

1.一种深截止窄带滤光片的高精度测试方法，其特征在于，其包括如下步骤：步骤1：首先选择分光光度计的测试参数m‑1个，分别记为变量x1、x2、……xm‑1；步骤2：在每个变量下选择不同的参数，共n个参数，则定义测试参数变量的矩阵X如下：步骤3：滤光片的性能指标Yi考核中心波长、峰值透过率、带宽和截止带深度，在此定义分别用Y1、Y2、Y3和Y4表示；步骤4：上述的关系表征如下，基于数学的多元线性回归的方法，矩阵β是需要多元回归的矩阵：步骤5：采用实验设计的方法，确定测试实验的相关参数，分别对设计的参数进行实验测试；步骤6：对上述多元线性回归进行方差分析，检验测试结果Yi与测试参数X之间是否存在显著的线性关系，通过检验假设的方法构建检验统计量，在给定的显著性水平α下，确定线性回归关系的显著性；步骤7：进一步进行偏回归系数的检验，提出对y值影响不显著的参数x，最终确定Yi和X的多元线性回归方程；对于深截止窄带滤光片的测试而言，参数b0就是Yi的估计值，其余参数则是影响测试结果的误差。