[发明专利]活性测试方法和设备在审
| 申请号： | 201811276147.8 | 申请日： | 2018-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN110069970A | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 韩在濬;郭荣竣;俞炳仁;崔昌圭 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06F21/32 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 史泉;张川绪 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 公开一种活性测试方法和设备。一种处理器实现的活性测试方法，包括：获得包括对象的彩色图像和包括对象的红外(IR)图像；使用彩色图像执行第一活性测试；使用IR图像执行第二活性测试；基于第一活性测试的结果和第二活性测试的结果来确定对象的活性。 | ||
| 搜索关键词： | 活性测试 方法和设备 彩色图像 处理器实现 图像 | ||
【主权项】：
1.一种活性测试方法，包括：获得包括对象的彩色图像和包括对象的红外IR图像；使用彩色图像执行第一活性测试；使用IR图像执行第二活性测试；基于第一活性测试的结果和第二活性测试的结果来确定对象的活性。
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