[发明专利]一种半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置及测量方法有效
申请号: | 201811268651.3 | 申请日: | 2018-10-29 |
公开(公告)号: | CN109059807B | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 许敏达;陈祺;张鹏 | 申请(专利权)人: | 北京遥感设备研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26;G01B5/24 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 姜中英 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置及测量方法,所述装置包括:经纬仪、测量反射镜支架、测量反射镜、旋转平移机构,所述测量反射镜安装于测量反射镜支架的一端,测量反射镜支架通过旋转平移机构安装于经纬仪上,测量反射镜支架绕旋转平移机构旋转,改变测量反射镜的角度,同时沿旋转平移机构平移。测量反射镜支架(2)可绕旋转平移机构(4)旋转,同时可沿旋转平移机构(4)平移。本发明的优点是:实现简单,可方便得到半封闭结构内的被测反射镜一和被测反射镜二之间的夹角,从而得到两个被测反射镜镜面的平行度。 | ||
搜索关键词: | 一种 封闭 结构 反射 镜镜面 平行 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置,其特征在于,包括:经纬仪(1)、测量反射镜支架(2)、测量反射镜(3)、旋转平移机构(4),所述测量反射镜(3)安装于测量反射镜支架(2)的一端,测量反射镜支架(2)通过旋转平移机构(4)安装于经纬仪(1)上,测量反射镜支架(2)绕旋转平移机构(4)旋转,改变测量反射镜(3)的角度,同时沿旋转平移机构(4)平移。
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